主题:【活动】积分商城京东卡申领活动第二期(获奖结果已发布)

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ICP-AES中的背景较高,需离线背景校正,应用动态背景校正对增进准确度是很有效的。各种分子粒子(如OH)的谱峰或谱带对某些低含量的被测元素会引起一些分析问题,影响其在实际样品中检出限。
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ICP-AES的光谱干扰其数量很大而较难解决,有记录的ICP-AES的光谱谱线有50000多条,而且基体能引起相当多的问题。因此,对某些样品例如钢铁、化工产品及岩石的分析必须使用高分辩率的光谱仪。
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基体匹配或仔细在被测物质的质量范围内选用内标有助于补尝这个影响,但这在实际应用是有困难的。同位素稀释法虽有效,但费用高,简单而最有效的方法是稀释样品。
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空间电荷效应主要发生在截取锥的后面,在此处的净电荷密度明显的偏离了零。高的离子密度导致离子束中的离子之间的相互作用,形成重离子存在时首先损失掉轻离子,例如Pb 对Li 3。
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电离干扰是由于试样中含有高浓度的第I族和第II族元素而产生的,采用基体匹配、稀释试样、标准加入法、同位素稀释法、萃取或用色谱分离等措施来解决是有效的。
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试液与标准溶液粘度的差别将改变各个溶液产生气溶胶的效率,采用基体匹配法或内标法可有效地消除。
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双电荷离子产生的质谱干扰是单电荷离子M/Z的一半,例如138Ba2 对69Ga ,或208Pb2 对104Ru 。这类干扰是比较少的,而且可以在进行分析前将系统最佳化而有效地消除。
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HCl 、HClO4、H3PO4和H2SO4将引起相当大的质谱干扰。Cl  、P  、S 离子将与其他基体元素Ar  、O  、H 结合生成多原子,例如35Cl 40Ar对75As 、35Cl 16O对51V的叠加干扰。
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ICP-MS中质谱的干扰(同量异位素干扰)是预知的,而且其数量少于300个,分辩率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辩开,例如58Ni 对58Fe、 40Ar对40Ca、 40Ar16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰(质谱叠加)。
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载样前过滤或离心样品溶液或改用溶解能力更强的样品溶剂
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