主题:【求助】求救用X-ray测薄膜厚

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goldfish777
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希望哪位大虾指导下X-ray测膜厚的原理和操作。。。小弟新手。。。。。急需救命。。。
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goldfish777
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我用的是X'pert测reflectivity与omiga的函数关系,强度取lg。周期干涉条纹-kiessig条纹-这个我不太懂,谁有相关资料能共享下呀。。。小弟在此有理了。。
XRD
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测量基体某一个峰的强度,有膜的强度比没膜时的强度肯定低,然后根据衍射角、膜的吸收系数来计算。
slower
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原文由 huangjw 发表:
测量基体某一个峰的强度,有膜的强度比没膜时的强度肯定低,然后根据衍射角、膜的吸收系数来计算。

XRD还可以测膜厚?能否讲的详细一点儿,或是提供一些资料。学习学习
liuyuanlhfe
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skyzhang521
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rubyzsq
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原文由 goldfish777 发表:
我用的是X'pert测reflectivity与omiga的函数关系,强度取lg。周期干涉条纹-kiessig条纹-这个我不太懂,谁有相关资料能共享下呀。。。小弟在此有理了。。


我们的仪器也是X'pert PRO,用reflectivity分析的,原理就不太懂了,两年了,没有人来侧过,我只是拿标样练着玩。
goldfish777
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老兄,能问下那里的吗?我东北大学的....
现在就我自己在做这个...难免时候有点郁闷...
slower
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原文由 huangjw 发表:
测量基体某一个峰的强度,有膜的强度比没膜时的强度肯定低,然后根据衍射角、膜的吸收系数来计算。

XRD可以计算吸收系数吗?我倒是知道用吸收系数、透射系数和反射系数计算膜厚,可是不知道XRD可以测这些数据。怎么计算呢?
andrew82chen
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XRD只是理论上可以测膜厚,实际上最好使用其他方法,除非仪器设计之处就考虑了膜厚功能,否则。。。。
XRD还可以测应力,误差非常大,我以前用Rigaku
greek
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可以用XRD测量薄膜厚度,其基本原理是:利用掠入射X射线穿透深度很小的性质,加上摇摆探测器,根据2nd=k*lamda的干涉原理,可以看见很多的衍射小峰,根据两峰间的角差距可以计算薄膜厚度,或者进行FFT也可以计算薄厚,不过这种方法只适合测量~100nm左右的薄厚,而且精度有限
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