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ID:Ins_068a7ac2
行业:其他
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ID:xurunjiao5339
ID:m3149125
ID:xsh1234567
原文由 光哥(xsh1234567) 发表:1、吹扫;2、S180nm附近有Ni的一条峰,看你的样品
原文由 Ins_068a7ac2(Ins_068a7ac2) 发表: 测的三元材料,不过在其他设备上测同样的样品就没有这个干扰峰
原文由 光哥(xsh1234567) 发表: “其他设备”是指同样是ICPOES只是其他品牌,还是不同仪器?
原文由 Ins_068a7ac2(Ins_068a7ac2) 发表: 一样的设备,只有新旧不同,而且是同样的样品今天清洗了矩管但是还是存在干扰峰,只是测试出来强度整体下降了
原文由 123(m3149125) 发表:这个与样品基质和仪器状态包括进样系统有关系
ID:v2659796
ID:Ins_b6cb8bdf