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主题：【求助】原子力显微镜做kelvin probe 模式的问题求解~~

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30521991

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发表于：2007/09/20 16:38:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

请问我用原子力显微镜做kelvin probe 模式扫描时候，和表面形貌同时得到的图，是称为表面电势图像吗？它所表示的是表面电势，还是样品的功函数差？？？还是其他的呢？？
表面电势和功函数的概念到底这么理解？？
谢谢大家~

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2007/9/20 18:10:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 30521991 发表:
请问我用原子力显微镜做kelvin probe 模式扫描时候，和表面形貌同时得到的图，是称为表面电势图像吗？它所表示的是表面电势，还是样品的功函数差？？？还是其他的呢？？
表面电势和功函数的概念到底这么理解？？
谢谢大家~

根据KPFM原理，样品的功函数是针尖功函数减去样品的表面电势。如果你针尖的功函数是已知的，那么你就可以得到样品的功函数。如果针尖的功函数不知道(例如，你的探针是合金涂层的)，则需要标定，一般使用新揭开的HOPG,或者新蒸镀的金，多次扫描取均值。

另外，功函数对于表面吸附是很敏感的，所以如果要求精确，需要在高真空环境下做KPFM.(从我的经验来看，对于金，大气和真空中相差0.3eV左右)

此外，研究表明(光电子能谱，KPFM)不同的晶面功函数是不同的，Ashcroft 的 Solid state physics有比较详细的解释。

KPFM,在研究电子结构方面是一种有力的工具，但对于实验数据的解释却不容易，常常需要考虑探针的影响，如针尖展宽效应等。另外对于无机半导体，含还需要考虑表面态，即费米能级在表面态的钉扎现象。

以上是是本人的一点体会，希望多多交流，共同进步。

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