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ID:frank16388
行业:其他
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ID:wsynr
ID:alexright
原文由 frank16388 发表:公司最近买了一台岛津的EDXRF,在进行镀层成分分析时,有时会出现硅,而且含量还不低。镀层只是Sn-Ag-Cu合金,不可能会含有Si的。不知道是否是仪器的硅锂检测器干扰而成?请大虾们指教!谢了。
ID:june_gu
ID:SeanWen
ID:muqing_hit
ID:tong5713