原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:
问题:
仗剑少年游老师:
我想问一下,多金属矿石,如果采用X荧光光谱法,你如何处理样品?
和传统的化学分析方法,有什么优势?
答复:
金版主是绝对的行家了,我这里献丑说说自己的看法。
我一直有一个观点:适用的才是好的。
矿石类样品首先均匀度不会太好,取样代表性很难保证,因此定量分析意义并不大(如果涉及到定量,标准品难寻,工作曲线难建),所以XRF的无标半定量的意义对此类样品尤其明显。
我的大概分析流程如下:
颚式破碎——缩分——磨至200目——缩分 期间需要考虑样品的潮湿状况,避免磨的时候出现结块
准确度能否达到化学方法的要求?
烘干
硼酸为粘结剂压片(不排除粘结性不好的情况,可掺入硼酸一同压片)
加膜后进行XRF无标半定量分析。
对于分析结果所列出的元素可以去查看相应的谱线,看看是否有谱线干扰的问题,如有加以修正,这样得出的矿石组分或许已经可用了。
大概流程如此。
我目前大部分样品的流程都如此,对于传统化学分析的方法,省事省力,得到的数据可用,这是我以为XRF相对于传统化学法及ICP的优势所在。