X荧光光谱仪(XRF测试仪)由激发源(X射线管)、高压电源、探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
工作原理
X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比,因此可以得到定性、定量分析的能量谱图。
注:X射线荧光(X Ray Fluorescence)是一种电磁波,是原子内层电子受到激发,在跃迁的时候,产生的一种电磁辐射。
lXRF:X射线荧光(XRayFluorescence)
通常把照射在物质上的X射线的原级X射线和照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光。 X射线,激发被测物料,受激发的物料中不同元素发出的特征波长的X射线和能量差。
X射线荧光光谱仪有两种基本类型: 波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)更多相关文献: 请点击