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主题：【求助】GIXRD（掠入射X射线衍射）和Seeman-Bohlin的区别

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airui2008
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发表于：2009/03/30 15:17:17 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
悬赏金额：20积分 状态： 未解决
掠入射X射线衍射（GIXRD或者GID）和Seeman-Bohlin都是入射X射线以小角度入射到样品表面，经过样品表面层衍射后再射出来，这两种技术都是对表面灵敏的。在测样品的时候（比如测sapphire上面的一层Nb），用这两种方法有什么区别呢？它们对比有什么长处和问题？还有怎么确定各自的探测深度？恳请高人详细讲解，谢谢！
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