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ID:zzjzgpc
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ID:mhq111111
ID:diamond
原文由 diamond 发表:看来是我记错了。但压片的时候厚度小于0.5mm时也会有的干涉条纹,不知道能不能利用?
ID:manlianno99
ID:mark_lee
原文由 manlianno99 发表:利用干涉原理测量,国外专门的红外膜厚测量系统,像jasco日本分光的,可以做到最小250nm。常规红外加反射附件也可以做,基本只能做到毫米级。