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主题：【资料】半导体硅材料中杂质元素的分析方法

浏览0 回复25 电梯直达
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Edwardyan
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2010/9/10 14:44:57 21楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 Field_Tian(MWSpecialist) 发表:
如果用激光烧蚀加上HR-ICP-MS也可以的，有GD-MS就更简单啦

个人认为GD－MS的灵敏度用来分析半导体硅材料中杂质，灵敏度不够吧！！哪位大侠有相关的资料，能否分享一下？谢谢
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car19
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2010/9/30 20:28:03 22楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢楼主了
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yanyan10
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2011/4/26 9:21:13 23楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢楼主！下载了！
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hupo
chhm19860311
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2011/7/28 22:52:17 24楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢分享，资料好
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shiwanjinbi
shiwanjinbi
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2011/9/18 13:06:46 25楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢分享.
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