原文由 咖啡无糖(taboo) 发表:
《电子显微分析实用方法》P42--这里讲的很清楚
另外CBED也可以用来定B矢量的,原理跟双束条件差不多,不过我没什么教程在手头
JEOL我用的比较少,bright tilt和dark tilt不是很分得清楚,不过,我据我知道的是,dark tilt+defx,Y应该只是平移了衍射花样,并没有倾转样品,但实际上要达到弱束条件是要倾转样品的。你可以在BF下倾转样品,当然要使衍射斑沿着垂直于g的方向动,在BF下可以看到位错线衬度变化,衬度最好的情况通常都接近g/3g条件,然后作DF,在DF下倾转,衬度达到最好的时候即可
原文由 下一站Julich(querida) 发表:原文由 咖啡无糖(taboo) 发表:
《电子显微分析实用方法》P42--这里讲的很清楚
另外CBED也可以用来定B矢量的,原理跟双束条件差不多,不过我没什么教程在手头
JEOL我用的比较少,bright tilt和dark tilt不是很分得清楚,不过,我据我知道的是,dark tilt+defx,Y应该只是平移了衍射花样,并没有倾转样品,但实际上要达到弱束条件是要倾转样品的。你可以在BF下倾转样品,当然要使衍射斑沿着垂直于g的方向动,在BF下可以看到位错线衬度变化,衬度最好的情况通常都接近g/3g条件,然后作DF,在DF下倾转,衬度达到最好的时候即可
dark tilt +def x y 对应于FEI的Dark field + Multifunction X+Y
实际上将电子束进行了倾转
整体平移衍射花样JEOL下用Proj + shift X Y实现
原文由 咖啡无糖(taboo) 发表:原文由 zrl1708(zrl1708) 发表:原文由 咖啡无糖(taboo) 发表:
1.& 4.BF和DF都可以判断位错类型的,g/3g DF只是提高了分辨率,如果位错密度不大的话,BF即可,但都需做一套g来判定B-vector先,另外实验中最实用的方法不是在衍射模式下倾转样品达到3g,而是在象模式下微微倾转样品作微调,使dislocation衬度最好。PS:高分辨只能看到edge dislocation.
请问怎么判断位错的类型和得出它的burgers矢量呢?给我推荐一些相关资料最好!
我好像都是在衍射模式下用dark tilt+ Def X,Y来把最亮的g移到中心,然后3g变亮,这样好像把电子束顷转了,而不是样品。那到底是转beam还是转样品呢?
《电子显微分析实用方法》P42--这里讲的很清楚
另外CBED也可以用来定B矢量的,原理跟双束条件差不多,不过我没什么教程在手头
JEOL我用的比较少,bright tilt和dark tilt不是很分得清楚,不过,我据我知道的是,dark tilt+defx,Y应该只是平移了衍射花样,并没有倾转样品,但实际上要达到弱束条件是要倾转样品的。你可以在BF下倾转样品,当然要使衍射斑沿着垂直于g的方向动,在BF下可以看到位错线衬度变化,衬度最好的情况通常都接近g/3g条件,然后作DF,在DF下倾转,衬度达到最好的时候即可