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主题：【讨论】ICP 干扰

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发表于：2010/04/30 15:06:48 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
一、非光谱干扰
1、溶液密度和溶液粘度，主要是对样品提升速度的影响
2、化学干扰，主要是化学键能的大小各不相同，影响到挥发和原子化，是得观测高度发生变化。
二，光谱干扰
1、背景干扰，主要是来自光源的连续光源、水分子引起的OH带光谱、引入的氮和有机物形成的NO、NH、CN、CO带光谱等
2光谱线重叠干扰
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steven_lly
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2010/4/30 16:32:17 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
光谱干扰一直很头痛，真正要去做的话，很麻烦，所以有时只能选用其他仪器如AAS进行测试。
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gototo
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2010/5/1 7:02:26 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我现在正着手解决的基体的干扰！
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hbmy2008hbmy
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2010/5/2 19:19:52 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
基体干扰解决不难，你每次加的消解试剂对每个样品都要一样，包括试剂空白
至于光谱干扰，很难解决啊！
我用PE ICP-OES 2100DV，资料上说可以用EEC和MSF校正，可是操作起来不太容易；有没有牛人给我指点哈迷津？
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chemistryren
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2010/5/3 13:32:24 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
ICP的光谱干扰大于化学干扰。。AAS相反。
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liyongdeng
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2010/5/4 9:42:11 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
溶液密度和溶液粘度，对样品提升速度影响,也影响雾化效率.PE ICP-OES 2100DV，可以用IEC和MSF校正,但太麻烦了,遇到光谱干扰的问题还是把这类材质记下来,换波长测,以后这样的材质就用换过的波长.
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千层峰
jxyan
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2010/5/4 10:23:55 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
做好一个MSF模板就可以了，IEC是针对完全重合的两个光谱图的，一般用不上
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未来的元帅
colin_928
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2010/5/4 17:52:50 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
钢材中铅测定一直有问题，还没想出办法来去除基体干扰
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popo
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2010/5/5 11:54:55 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
配置一个基体一致的标液来进行匹配
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chemistryren
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2010/5/6 10:02:16 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 liyongdeng(liyongdeng) 发表:
溶液密度和溶液粘度，对样品提升速度影响,也影响雾化效率.PE ICP-OES 2100DV，可以用IEC和MSF校正,但太麻烦了,遇到光谱干扰的问题还是把这类材质记下来,换波长测,以后这样的材质就用换过的波长.

这个还好吧,,毕竟蠕动泵是强制进样的.
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chenyue9119
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2010/5/6 10:22:59 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 jxyan(jxyan) 发表:
做好一个MSF模板就可以了，IEC是针对完全重合的两个光谱图的，一般用不上


请问你研究过MSF吗，研究过的话能不能讲一讲，或者提供一些资料呢
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