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主题：如何扣除xps的shirely和touggard背景

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feixiong5134

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发表于：2005/11/10 15:43:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

悬赏金额：20积分状态：已解决

请问如何扣除xps的shirely和touggard背景.二者有什么区别?

推荐答案：wuzl回复于2005/11/20

你是谁？回答哪个问题？你是灌水的？这里不准的，回新手区看看规则，小心斑竹把你的帖子删除了，那你就得不尝试了，呵呵

看来你是'good boy or girl'.你真刻苦认真。既然大家认识了，能给我们介绍一下你仪器，让大家开开眼界。

补充答案：

shxie回复于2005/11/14

已经发送。

boywy000回复于2005/11/10

建议可以问问Shixe斑竹哦，他是专家

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2005/11/10 15:59:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我在做xps,我看了很多文献用c1s校正荷电位移.但是他们有是各不相同,总的来说284.6ev-286ev.这是为什么?并且我听他们说标准结合能是在网上查的.那如果c1s选的标准不同,会不会造成峰位的变化?而且有的时候也不用c.这有是为什么?

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boywy000

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2005/11/10 16:02:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

建议可以问问Shixe斑竹哦，他是专家

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shxie

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2005/11/10 16:09:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 boywy000 发表:
建议可以问问Shixe斑竹哦，他是专家

汗，这个我不懂，XPS只是偶尔用到，用来做辅助表征的，深究就不懂了。

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feixiong5134

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2005/11/10 16:10:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我现在要做原位xps,可是很多东西都不懂,郁闷啊!

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shxie

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2005/11/10 16:13:00 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 feixiong5134 发表:
我在做xps,我看了很多文献用c1s校正荷电位移.但是他们有是各不相同,总的来说284.6ev-286ev.这是为什么?并且我听他们说标准结合能是在网上查的.那如果c1s选的标准不同,会不会造成峰位的变化?而且有的时候也不用c.这有是为什么?

就我了解得给你说说吧。一般的样品都有污染碳，而C1s的电子结合能相对比较稳定，所以如果没有特别稳定的元素就选这个作为标准，来校正仪器的误差。
每个样品在每台仪器上的C1s位置都是不一样的，所以要以该样品的C1s位置为标准，减去284.6 eV，这个差值要应用到所有其他峰位的矫正。
至于C1s的标准结合能，我们这边一直采用284.6，286的峰位不知道从何查出来的？或许他们的仪器规定的吧？

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shxie

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2005/11/10 17:15:00 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 feixiong5134 发表:
我现在要做原位xps,可是很多东西都不懂,郁闷啊!

有气氛的吗？看看这个：
Evidence for the Antioxidation Effect of Boron on the Ultrafine Amorphous Ni-B Alloy Catalyst
Dai, W.-L.; Li, H.-X.; Cao, Y.; Qiao, M.-H.; Fan, K.-N.; Deng, J.-F.;
Langmuir; (Note); 2002; 18(24); 9605-9608. DOI: 10.1021/la026116l

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wuzl

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2005/11/10 19:11:00 7楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 shxie 发表:
原文由 feixiong5134 发表:
我在做xps,我看了很多文献用c1s校正荷电位移.但是他们有是各不相同,总的来说284.6ev-286ev.这是为什么?并且我听他们说标准结合能是在网上查的.那如果c1s选的标准不同,会不会造成峰位的变化?而且有的时候也不用c.这有是为什么?

就我了解得给你说说吧。一般的样品都有污染碳，而C1s的电子结合能相对比较稳定，所以如果没有特别稳定的元素就选这个作为标准，来校正仪器的误差。
每个样品在每台仪器上的C1s位置都是不一样的，所以要以该样品的C1s位置为标准，减去284.6 eV，这个差值要应用到所有其他峰位的矫正。
至于C1s的标准结合能，我们这边一直采用284.6，286的峰位不知道从何查出来的？或许他们的仪器规定的吧？

-------------
污染碳，其实就是指碳氢化合物或碳黑等。当然不同的结构的C1s能量位置当然不同，且覆盖在不同的材料上也不相同。只能根据样品或实验条件确定，也要有一定的经验。这种校准方法有时有误差。就看你对实验的精确要求了。反正越精确越麻烦！

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wuzl

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2005/11/10 19:19:00 8楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 feixiong5134 发表:
请问如何扣除xps的shirely和touggard背景.二者有什么区别?

XPS专用软件。如何使用，我也想研究透了，欢迎有兴趣的朋友加盟。一般经验是绝缘体用线性，粉末用Shirely, 金属用Touggard. 试试！请将试的结果email给我看看，好吗？

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2005/11/11 15:51:00 9楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

先感谢各位大哥的回答．当时培训的时候，工程师告诉我们说是用２８４．６，但是我在用自动表峰的时候发现我们的峰位是２８５.０ev．而且我在随仪器带来的一本书他上面这样写：通常以２８４.６ev矫正，但是在这个例子中不适用，．因为污染碳的c1s和载体活性碳的c１s重叠不可区分．最后他们选用了s2p．但是我们在做煤的时候礼貌也不都是污染c啊！，也有其他的有机碳啊！但是他还用污染碳校正啊！我问工程师是什么原因，他告诉我说是经验问题．郁闷啊！什么都是经验啊！我什么时候才能摸索出来，各位大哥可以告诉我你们的经验吗？可以让小弟少走点弯路啊！谢谢

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wuzl

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2005/11/11 18:27:00 10楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

C D Wagner的手册中所用的C1s校准峰为284.8eV，而不是所说的284.6eV。你可以查到多种校正参考数据。但没有标准数据。因为所说的污染碳是什么，没有准确的结构，且在不同的衬底上不同的厚度，峰都会有偏。荷电校准是个值得研究的问题。需要有一定的经验和工作积累。另外，用于比对的实验能谱数据没有标准数据只有参考数据。现在的问题，你所测的数据，需要多准？如果污染碳不符合你的精度，可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准？倒是在实际实验中要注意样品表面分析区内荷电要均匀。如果你不满意的话，你可以email给我一份数据，我帮你看看，报告诉我样品的情况和前期处理条件。

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