主题:如何扣除xps的shirely和touggard背景

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feixiong5134
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再请教个问题,当你在做宽扫时候没有的元素峰,但是你知道里面一定含有.所以你做个窄扫,并且的确出现了,此时应该怎么做它和其他元素的相当含量?
feixiong5134
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原文由 wuzl 发表:
原文由 feixiong5134 发表:
请问如何扣除xps的shirely和touggard背景.二者有什么区别?

XPS专用软件。如何使用,我也想研究透了,欢迎有兴趣的朋友加盟。一般经验是绝缘体用线性,粉末用Shirely, 金属用Touggard. 试试!请将试的结果email给我看看,好吗?


我也没有做过绝缘体和金属!但是我看工程师来了调试仪器的时候,用Au标定的时候,用的是线性啊!我也不太清楚了
yzhanggq
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feixiong5134
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[C D Wagner的手册中所用的C1s校准峰为284.8eV,而不是所说的284.6eV。你可以查到多种校正参考数据。但没有标准数据。因为所说的污染碳是什么,没有准确的结构,且在不同的衬底上不同的厚度,峰都会有偏。荷电校准是个值得
可以试试!催化剂载体与表面的催化剂荷电很可能不相同,要注意。
Phi的户有此书。或到国图,中科院图书管找到。较普遍。


Phi的户有此书            这是什么意思?可是我距离北京很远啊1

对了您在那工作啊?您一般用xps测试什么(如催化剂)?你们那里有人去培训过吗?如果有的话,那培训费用是多少啊?
feixiong5134
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原文由 wuzl 发表:
原文由 feixiong5134 发表:
说实在的至于您说的数据需要多准,我也不清楚.但是以后有一天对仪器熟悉了.总要对外使用,不能让人家话钱,却得到不准确的数据.毕竟这是科学数据,不容许出一点马虎啊!


需要具体情况具体对待。你的XPS是单色器还是双阳极?


您不会告诉我您的仪器只要其中的一种吧?不过我们的没有AES.呵呵
feixiong5134
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原文由 wuzl 发表:
原文由 feixiong5134 发表:
对了还有您说的关于荷电外移,我在一本书上看到过他有3种情况引起.其中有一种就是在在双面胶上压制时候尽量的要薄.如果太厚也容易引起荷电外移.但是如果你们用过双面胶也知道,如果样品太薄还容易粘在一起,所以老是做不好,要不厚要不薄,郁闷.


用力要合适均匀。要不你买一台压片机压。


你们做样如果不用压片机和双面胶那用什么做样啊?可以介绍一下吗?
feixiong5134
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对了还有您说的关于荷电外移,我在一本书上看到过他有3种情况引起.其中有一种就是在在双面胶上压制时候尽量的要薄.如果太厚也容易引起荷电外移.但是如果你们用过双面胶也知道,如果样品太薄还容易粘在一起,所以老是做不好,要不厚要不薄,郁闷.


用力要合适均匀。要不你买一台压片机压。


呵呵!大哥,有压片机,要不进了样品室就样品就被吸干了!你不提压片机还好!一提就来气,那东西经常漏油,没用多长时间就坏了,这不刚刚修好!好的我以后注意点,尽量用力均匀,而且细心点


呵呵!我也是从别人那里学了一招。将粉末直接压在双面胶带上,效果更好。压力别太大了,否则胶会被压出来。买个质量好的压片机。


仪器是由学校定啊!我也想买台好的,可是不行啊! .俺只是一个小卒卒.
feixiong5134
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