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主题：【求助】时间飞行二次质谱仪能否实现样品局部定位分析？

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buffle
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发表于：2010/08/26 10:45:24 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
对于含有两相的复合材料，其中增强相为碳纤维，其直径约6~8微米，想分析碳纤维径向的成分分布，不知道这个设备是否配备有光学显微镜以便能微区定位，此外，离子束的束斑直径能小到多少啊？忘大家赐教啊，多谢！！
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2010/8/28 12:39:29 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
时间飞行二次质谱仪（TOF-SIMS）的分辨率可小到纳米级到100nm多，各个仪器的参数可能不同。
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