三、化学干扰
化学干扰是由于被测元素原子与共存组分 发生化学反应而引起的干扰。它主要影响被测元素的原子化效率。是
原子吸收法中主要的干扰来源。包括:
a.待测元素与干扰组分形成更稳定的化合物。这是产生化学干扰主要的主要来源。如磷酸根干扰钙的测定。又如,例:a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物;b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。
b.待测元素在火焰中形成稳定的氧化物、氮化物、氢氧化物、碳化物等。
如,用空气---乙炔火焰测定Al,Si等时,由于形成稳定的氧化物,原子化效率低,测定的灵敏度很低;又如,B,U等甚至在还原性N2O-C2H2中测定,灵敏度都很低,就是因为在火焰中形成稳定的碳化物和氮化物。在石墨炉原子化器中,W,B,La,Zr,Mo等易形成稳定的碳化物,使测定的灵敏度降低。
c.待测元素在高温原子化过程中因电离作用而引起基态原子数减少的干扰(主要存在于火焰原子化中)电离作用大小与: ①待测元素电离电位大小有关——一般:电离电位< 6 eV , 易发生电离 ②火焰温度有关——火焰温度越高↑,越易发生电离↑。(如碱及碱土元素)。
化学干扰产生的原因是各种各样的,具体应采用什么方法消除也因情况而定。
消除化学干扰的方法:
①. 加入消电离剂,如 NaCl、KCl、CsCl 等。加入过量的消电离剂。消电离剂是比被测元素电离电位低的元素,相同条件下消电离剂首先电离,产生大量的电子,抑制被测元素的电离。或控制原子化温度。
例:加入足量的铯盐,抑制K、Na的电离。
②.加入释放剂
释放剂的作用是释放剂与干扰物质能生成比被测元素更稳定的化合物,使被测元素释放出来。
例如,磷酸根干扰钙的测定,可在试液中加入镧、锶盐,镧、锶与磷酸根首先生成比钙更稳定的磷酸盐,就相当于把钙释放出来。
③.加入保护剂
保护剂作用是它可与被测元素生成易分解的或更稳定的配合物,防止被测元素与干扰组份生成难离解的化合物。保护剂一般是有机配合剂。例如,EDTA、8-羟基喹啉。如,磷酸根干扰钙的测定,可在试液中加入EDTA,此时Ca转化为Ca-EDTA络合物,它在火焰中容易原子化,就消除了磷酸根的干扰。
④.缓冲剂:
即在试样和标准溶液中均加入大量的干扰元素,使干扰达到饱和并趋于稳定。如用乙炔-N2O火焰测定Ti时,Al抑制Ti的吸收有干扰,但如果在试样和标准溶液中均加入200μg/g的Al盐,可是Al对Ti的干扰趋于稳定,从而消除其干扰。
除了加上述试剂消除干扰外,还可以采用标准加入法来消除干扰。当上述方法均无效时,则必须分离。