主题：【线上讲座64期】我国WDXRF在地质行业应用现状及发展趋势（活动时间：2011年5月04日-5月16日）

原文由 iangie(iangie) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 damoguyan(damoguyan) 发表:
WDXRF相对于EDXRF有什么优点？只了解EDXRF

两个仪器各有各的优点。
我个人认为WDXRF，相对于EDXRF，优势在于测定轻元素

请教一下两者的具体优缺点是什么?
具体一点就是:　按道理样品发射的荧光应该是多色的. 相比于直接用ED检测, "WD多了这个分光晶体分光, 测角"的过程, 请问这个过程能带来什么好处?

原文由 lidonglei(lidonglei) 发表:
albert800922您好！我有以下问题想请教，
请问：使用X射线荧光技术检测氯的时候，结果总是不稳定，尤其压片后似乎与放置时间有一定关系，但原因并不是环境污染等因素，这在地质行业实验室是一个共同的问题，尤其在大批量样品测试时这个问题显得非常突出。这个问题的根源可能在哪里？如何解决这个问题？有人认为高含量氯所受影响较小，于是采取加强氯基础信号的方法即在压片时人为加入氯的标准的方法，这样做是否合适？上述问题的出现是氯独有的现象，同测的其余元素没有这些情况。

原文由 雨夜孤影(jiang59430) 发表:
我只了解AXIOS的仪器，对其他仪器不是很了解，想问下，能否总结一下各厂家仪器的优缺点，以及各仪器的卖点是那些？

原文由 雨夜孤影(jiang59430) 发表:
有研究不是是尽量制样后马上检测！还有就是使用内标试一试吧~个人意见

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 lidonglei(lidonglei) 发表:
albert800922您好！我有以下问题想请教，
请问：使用X射线荧光技术检测氯的时候，结果总是不稳定，尤其压片后似乎与放置时间有一定关系，但原因并不是环境污染等因素，这在地质行业实验室是一个共同的问题，尤其在大批量样品测试时这个问题显得非常突出。这个问题的根源可能在哪里？如何解决这个问题？有人认为高含量氯所受影响较小，于是采取加强氯基础信号的方法即在压片时人为加入氯的标准的方法，这样做是否合适？上述问题的出现是氯独有的现象，同测的其余元素没有这些情况。

李老师好：我也发现了这个问题，Cl测定不稳定，但是对于化探样品，不至于超差，当时也没有深考虑这个问题。
但是我想知道你Cl的测定条件。根据我所知道的，在根据您说的，我认为对于Cl这种元素要特殊处理，适当增加
测量时间，使用多个标样，通过对被分析元素峰位角度扫描 显示在屏幕上的扫描图，仔细地选择无干扰的背
景位置和对谱峰干扰的元素；还有就是Cl的确容易受环境的污染，样品制好后，需要放到干燥器里。

原文由 huier1223(huier1223) 发表:

原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:

原文由 lidonglei(lidonglei) 发表:
albert800922您好！我有以下问题想请教，
请问：使用X射线荧光技术检测氯的时候，结果总是不稳定，尤其压片后似乎与放置时间有一定关系，但原因并不是环境污染等因素，这在地质行业实验室是一个共同的问题，尤其在大批量样品测试时这个问题显得非常突出。这个问题的根源可能在哪里？如何解决这个问题？有人认为高含量氯所受影响较小，于是采取加强氯基础信号的方法即在压片时人为加入氯的标准的方法，这样做是否合适？上述问题的出现是氯独有的现象，同测的其余元素没有这些情况。

李老师好：我也发现了这个问题，Cl测定不稳定，但是对于化探样品，不至于超差，当时也没有深考虑这个问题。
但是我想知道你Cl的测定条件。根据我所知道的，在根据您说的，我认为对于Cl这种元素要特殊处理，适当增加
测量时间，使用多个标样，通过对被分析元素峰位角度扫描 显示在屏幕上的扫描图，仔细地选择无干扰的背
景位置和对谱峰干扰的元素；还有就是Cl的确容易受环境的污染，样品制好后，需要放到干燥器里。

用压片法测量时，Cl，S，Br，I都会出现这种情况。Cl、S出现这种情况我自己做实验的时候发现的，Br、I出现这种情况是从文献上看到的（国家地质测试中心詹秀春研究员写的），解释这种现象的说法很多，你自己找文献看去。最简单的解决方法是压片完后立即测量。熔片制样会消除非环境影响因素，但是高氯体系是没有办法熔样的。至于加入氯标的方法，没有试过。

原文由 huier1223(huier1223) 发表:
补充一下，高氯地质体系，好像是盐湖地质体系。
用XRF做盐湖地质体系的单位不多，一般是科研系统。呵呵。