主题：【求助】求中文的TEM相关的书籍，同时分享威廉姆斯那本经典教材

原文由 ontheroad(ontheroad) 发表:
谢老师好！
我有眼不识泰山，望您见谅啊！

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
日本也就芝麻粒大，你有啥不懂的直接奔到谢老师那里当面问不就行了？或者搞个合作也行呀。

原文由 ontheroad(ontheroad) 发表:
下面就是我最近测的一张图，我用等离子将碳化硅的表面氧化了。
所以最下面有二氧化硅，但是二氧化硅跟碳化硅的界面处有一黑层，这个怎么解释比较好呢？
是由于试样厚度不均匀？变质层Si-C-O？
请各位前辈指点啊？
初学TEM，什么都不懂，让各位前辈了。。。。。。

原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:

原文由 ontheroad(ontheroad) 发表:
下面就是我最近测的一张图，我用等离子将碳化硅的表面氧化了。
所以最下面有二氧化硅，但是二氧化硅跟碳化硅的界面处有一黑层，这个怎么解释比较好呢？
是由于试样厚度不均匀？变质层Si-C-O？
请各位前辈指点啊？
初学TEM，什么都不懂，让各位前辈了。。。。。。

俺不懂啊，大概是衍射衬度吧，版主们上啊，我去搬个板凳.........

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
谢老师总是这么谦虚，所谓“行走江湖，以德服人”，真是我辈楷模。
那些漂浮在界面上的乌云看起来确实象衍射衬度造成的结果，究竟是不是和成分有关就不好说了。

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
EDS分析轻元素有点不太靠谱，不过你可以试试EDS线扫，看看是不是有明显的成分波动。另一个路子是使用和EELS有关的方法，过滤像，线扫都可以。过滤像分析可能会简单一点。

原文由 coime(coime) 发表:

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
EDS分析轻元素有点不太靠谱，不过你可以试试EDS线扫，看看是不是有明显的成分波动。另一个路子是使用和EELS有关的方法，过滤像，线扫都可以。过滤像分析可能会简单一点。

我觉得EELS效果会好点，EDS对于轻元素的确挺不靠谱，即使线扫，这么小的区域我感觉也不一定能有明显的区别

原文由 ontheroad(ontheroad) 发表:

原文由 coime(coime) 发表:

原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
EDS分析轻元素有点不太靠谱，不过你可以试试EDS线扫，看看是不是有明显的成分波动。另一个路子是使用和EELS有关的方法，过滤像，线扫都可以。过滤像分析可能会简单一点。

我觉得EELS效果会好点，EDS对于轻元素的确挺不靠谱，即使线扫，这么小的区域我感觉也不一定能有明显的区别

多谢前辈指点，最近用EELS试试看。