主题:【求助】测角仪的工作原理是什么?

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jingxiu
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测角仪的工作原理是什么?最好能配上示意图和文字,
先谢谢大家。
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金水楼台先得月
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测角仪是WDXRF仪的核心部件,目前推出的是第四代产品,其特点是探测器和晶体系统可以单独转动,精度能达到±0.0002度,其关系的调节,由微处理器自动完成。
Onway
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这个问题不错,我简单的说下,不一定对,参考一下:
从布拉格公式讲讲,表达式为:nλ=2dsinθ
简单点就是晶体反射过来的光线,不同角度对应的波长就不一样,特定角度就对应一个元素,测角仪就是改变探测器不同测量角度的机械传动部分,包含准直器、晶体、探测器。测角仪实现的就是在一定的角度范围内不同元素的测量。
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xp1980
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XFR中的扫描道就是这样的,属于一种接近全元素分析设备,但是在分析是时间比较长,一般应用到理论定性分析中,查找样品中含什么元素。
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原文由 Onway(juway) 发表:
这个问题不错,我简单的说下,不一定对,参考一下:
从布拉格公式讲讲,表达式为:nλ=2dsinθ
简单点就是晶体反射过来的光线,不同角度对应的波长就不一样,特定角度就对应一个元素,测角仪就是改变探测器不同测量角度的机械传动部分,包含准直器、晶体、探测器。测角仪实现的就是在一定的角度范围内不同元素的测量。


你那有图片吗。附上图片理解就更好了。
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原文由 xp1980(xp1980) 发表:
XFR中的扫描道就是这样的,属于一种接近全元素分析设备,但是在分析是时间比较长,一般应用到理论定性分析中,查找样品中含什么元素。

理论上是全元素分析设备,因为角度可以全范围的转动,那么是哪些条件限制是的XRF实际上无法达到全元素分析呢。
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