原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
首先,溶片法应该可以较大限度消除基体效应的影响,其测试异常大概和基体效应联系不是那么显著。
个人意见,是否生产样的组成与标准样之间存在较大区别?比如有未知元素?
pS:你所说的“系数0.1~0.008之间,校正因子大于0.99”这个描述不是太理解。
一般来说,曲线制作好后,可以查看其计算系数应该不会达到0.1左右的,至多也就在0.03以下,至于曲线的校正因子,这是关于曲线漂移校正的一个说法吧,貌似你仪器型号采用的软件算法,应该是小于1.3就为OK。所以不好确定你描述的问题指向。假如方便的话,可以截图上来参考参考……
原文由 名字更新中……(liuxuwentiger) 发表:
首先,溶片法应该可以较大限度消除基体效应的影响,其测试异常大概和基体效应联系不是那么显著。
个人意见,是否生产样的组成与标准样之间存在较大区别?比如有未知元素?
pS:你所说的“系数0.1~0.008之间,校正因子大于0.99”这个描述不是太理解。
一般来说,曲线制作好后,可以查看其计算系数应该不会达到0.1左右的,至多也就在0.03以下,至于曲线的校正因子,这是关于曲线漂移校正的一个说法吧,貌似你仪器型号采用的软件算法,应该是小于1.3就为OK。所以不好确定你描述的问题指向。假如方便的话,可以截图上来参考参考……
原文由 penghx2005(penghx2005) 发表:原文由 qcz9999(qcz9999) 发表:
不知您考虑基体效应的问题否
我测定的元素为钴、镍、铬、铌、钽、钨,选用LiF1,Ni选择LiF2,无重叠,只对吸收增强效应作校正,应该是基体校正后得到的工作曲线,就是进行了基体校正后出现的疑问