主题:【讨论】TEM结果分析

浏览0 回复13 电梯直达
huazhongqiu
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middle
今天第一次自己独立操作TEM,得到几张图片。想通过TEM观察在氧化钨表面附着PdO纳米颗粒,实验结果如图1-3所示。图中似乎可以看到颗粒,但是当改变焦距后,颗粒状物消失,变成了一个一个的小白坑。和导师讨论了,认为这些颗粒很有可能不是附着的颗粒。但是我认为,很有可能是因为,PdO和氧化钨过于想接近造成的。实际上,W的元素要比Pd大,分别是 74, 46。附加的图片,把图片上那些黑点调清楚后,就是这些白坑,在低倍下也可见,见图5.
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小M
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iangie
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天黑请闭眼
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能做HAADF吗?做这个看看比较方便,直接找,我看你的载体是晶体,可能找起来很累。
洪星二锅头
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第一张和第二张焦距不对,第三张我觉得是你的衬度没有调好
huazhongqiu
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载体是晶体结构,所以没法观察晶面距。现在准备做下EDX和HAADF。
楼上说的没调好焦距是故意,如果我调节清楚了看到是一个坑坑,但是欠
焦距的是能够看到颗粒物状。现在我认为主要是因为载体的衬度要大于附着
这可能是一个重要的原因。
peonytre
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huazhongqiu
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是的,想请教下,那些空洞通常在TEM中很容易观察到吗?
huazhongqiu
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经过这几天的思考,我觉得问题可能是这样的,图中的黑点和亮点就是我需要PdO附着物,主要是从两个方面考虑,第一尺寸上空洞和黑点是相近的,第二,位置也是重合的。正常焦距的情况下,应该出现的是白点或者空洞,是因为两种材料之间的衬度差异,这在文献中很常见。所以这种情况下,我认为通过暗场像应该可以分辨出附着物和载体材料。下周去做个测试去验证设想,之后给各位报告下结果。欢迎各位热情指导!!!
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