主题:【求助】硅铁中硅的测定-荧光压片法

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xializhi
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原文由 imoonsun(imoonsun) 发表:
硅铁中硅的测定-荧光压片法,荧光结果和化学结果相差比较大,请问高手,该如何制备样品啊?
我这边压力控制在40吨20秒,粒度控制在200目。片子能压成,但是荧光结果和化学法相差较大啊,请哪位高手帮忙解决下,或者留下联系方式,手机号码或者邮箱。
qianguiyun1
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我们是玻璃行业,一直用压片法,效果还可以。主要注意几个问题:样品质量、研磨时间(包括和粘结剂混合时间)、粒度要和建曲线的标样一致。
该帖子作者被版主 lihaijun2积分, 2经验,加分理由:帮助
19栋
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我们也做硅铁中的硅,能告诉我们样品制备的具体数据么,比如研磨时间,样品和粘结剂的用量,还有如果是融熔法能告知具体的操作方法么,谢谢,我们现在的硅做的也不好,与化学值想比较误差在2%,做了校正正也没过来,请各位指导,我们也好就方法进行改进。
panake
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你好:
第一,考虑你的曲线必须是用化学法定值的自用样作为内控标样,因为国家标准样品和试样存在差异。
第二,不同分析人员压样时间是否一致?
第三,合金遇潮就会影响荧光折光率,建议你破碎后先烘一小时再研磨。
第四,研磨时间是否足够,据我本人经验一般硅铁研磨30S足够。
希望能帮助到你。
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zhangjiagan318
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imoonsun
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alexright
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原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
粒度还是有差异的,含量高低有差异!压片说的不好听,不靠谱,好的时候很好,不好的时候都不知道怎么不好的!


同意,控制粒度吧
qianguiyun1
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原文由 imoonsun(imoonsun) 发表:
这个差2%的样品压过平行样了,强度没啥变化,就是和化学值相差比较大,跪求原因啊。


可能是试样的含量超出了曲线的线性范围?
mgy
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原文由 imoonsun(imoonsun) 发表:
硅铁中硅的测定-荧光压片法,荧光结果和化学结果相差比较大,请问高手,该如何制备样品啊?
我这边压力控制在40吨20秒,粒度控制在200目。片子能压成,但是荧光结果和化学法相差较大啊,请哪位高手帮忙解决下,或者留下联系方式,手机号码或者邮箱。


硅铁分析难度较大,主要是硅铁冶炼中形成的结构差异造成的,特别是硅铁冶炼中很多使用的还原剂是废弃的钢屑,其中会有很多重金属,造成基体差异,这样的话,粉末压片法就有问题了;但是硅铁来源单一的话,只要控制好粒度,也是可以分析的。

最好的方法是熔融玻璃片方法,比化学分析准确,岛津有这样的方法,你可以联系让岛津给你解决。
lrige
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延长粉磨时间,我们以前做过实验,就水泥生料需要粉磨2分钟其强度才趋于稳定。我们用的也是MXF2400
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