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mxchen1215
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发表于：2012/08/25 10:40:27 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
【序号】：1
【作者】：Robert W. Collins
【题名】：Ellipsometry in Thin Film Analysis
【期刊】：Annual Review of Materials Science
【年、卷、期、起止页码】： Vol. 11: 97-122                            (Volume publication date August 1981)       
【链接】：http://www.annualreviews.org/doi/pdf/10.1146/annurev.ms.11.080181.000525
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2012/8/25 14:37:17 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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