原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:“现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度”,目前710只有-30℃以下啊,没有-40℃呀。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
是CCD啊!热电的好像都是是CID
原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:“现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度”,目前710只有-30℃以下啊,没有-40℃呀。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
是CCD啊!热电的好像都是是CID
另外,请问PE用的是什么检测器?之前PE7000DV的检测器是不用低温的。
原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:7300是全谱的,检测器跟7000不一样。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:“现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度”,目前710只有-30℃以下啊,没有-40℃呀。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
是CCD啊!热电的好像都是是CID
另外,请问PE用的是什么检测器?之前PE7000DV的检测器是不用低温的。
PE7000没用过,不过7300是这样参数,现在都一年没接触PE仪器了。呵呵
PE7300DV
UV -43.3度
VIS -36.6度
原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:7300是全谱的,检测器跟7000不一样。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:“现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度”,目前710只有-30℃以下啊,没有-40℃呀。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
是CCD啊!热电的好像都是是CID
另外,请问PE用的是什么检测器?之前PE7000DV的检测器是不用低温的。
PE7000没用过,不过7300是这样参数,现在都一年没接触PE仪器了。呵呵
PE7300DV
UV -43.3度
VIS -36.6度
原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:PMT是不用制冷的吗?原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:7300是全谱的,检测器跟7000不一样。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:“现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度”,目前710只有-30℃以下啊,没有-40℃呀。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
是CCD啊!热电的好像都是是CID
另外,请问PE用的是什么检测器?之前PE7000DV的检测器是不用低温的。
PE7000没用过,不过7300是这样参数,现在都一年没接触PE仪器了。呵呵
PE7300DV
UV -43.3度
VIS -36.6度
难不成是PMT检测器吗?
原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:PMT是不用制冷的吗?原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:7300是全谱的,检测器跟7000不一样。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:“现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度”,目前710只有-30℃以下啊,没有-40℃呀。原文由 砂锅粥(czcht) 发表:原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:请问瓦里安的检测器是哪一种?它只要-30℃。
电荷注入检测器(charge injection device,CID)
电荷耦合检测器(charge coupling device,CCD).
CID发明于1973年.CCD发明于1970年.
CID优于CCD之处:积分时可以连续测量,灵敏度比CCD高1个数量级,更适合弱光的检测;具有较强的抗电晕能力.
两种仪器都有个缺点,即要在很低的温度下工作,现在用于商品化的ICP仪器中的CCD检测器工作温度要在-40摄式度,CID要求的温度更低,否者会产生暗电流,噪声过高,严重影响检测限,甚至失效.
由于以上特性,使得这两种检测器在工作时需要低温制冷,并要通入氩气,使得使用成本大大增加.
并且其价格很高,一旦出现某个组成电容器(检测单元)坏损,就要更换整个仪器(一般有19672个检测单元).
是CCD啊!热电的好像都是是CID
另外,请问PE用的是什么检测器?之前PE7000DV的检测器是不用低温的。
PE7000没用过,不过7300是这样参数,现在都一年没接触PE仪器了。呵呵
PE7300DV
UV -43.3度
VIS -36.6度
难不成是PMT检测器吗?