主题：【讨论】此类背景大家是如何处理的呢？

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一般样品测完看谱图异常都重新测试下样品

重新测试？重新测试又不能改变谱图的形状！

遇到谱图异常这种情况要如何处理呢？

重新测试主要排除进样过程中异常情况，若还是，就要找原因了

我们的标准曲线是比较干净的，而样品一般都比较复杂，样品要想得到和标液一样的谱图估计比较困难！我就想问大家遇到基体复杂的样品，在背景这块是如何处理的？通过校正还是什么办法？能拿出个方案来！

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我听一个工程师讲过  可以进行左右背景校正

背景校正？具体如何操作呢？还是在软件上设置？

我们的软件上有  你可以研究一下  你们的软件 

哦，通过设置软件的参数，背景就自动校正了？我在我们的软件上还真没看到过，回头再仔细研究一下！请问您用的是哪款仪器？

北京科创海光  SPS8000    网上有介绍  您可以看看

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一般样品测完看谱图异常都重新测试下样品

重新测试？重新测试又不能改变谱图的形状！

遇到谱图异常这种情况要如何处理呢？

重新测试主要排除进样过程中异常情况，若还是，就要找原因了

我们的标准曲线是比较干净的，而样品一般都比较复杂，样品要想得到和标液一样的谱图估计比较困难！我就想问大家遇到基体复杂的样品，在背景这块是如何处理的？通过校正还是什么办法？能拿出个方案来！

你们样品类型复杂的话都是一样类型的样品吗？内标加标准加入法？

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我听一个工程师讲过  可以进行左右背景校正

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我听一个工程师讲过  可以进行左右背景校正

我们安捷伦ICP里面有个FITTED模式，就是软件自带扣除背景校正的，比较好用，对于样品基体简单的实用

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我听一个工程师讲过  可以进行左右背景校正

我们安捷伦ICP里面有个FITTED模式，就是软件自带扣除背景校正的，比较好用，对于样品基体简单的实用

哦，我要好好研究一下我们的仪器是否有这个功能

原文由 sasha(540019326qq) 发表:

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一般样品测完看谱图异常都重新测试下样品

重新测试？重新测试又不能改变谱图的形状！

遇到谱图异常这种情况要如何处理呢？

原文由 千层峰(jxyan) 发表:

原文由 sasha(540019326qq) 发表:

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一般样品测完看谱图异常都重新测试下样品

重新测试？重新测试又不能改变谱图的形状！

遇到谱图异常这种情况要如何处理呢？

一般重新测试是无用功。

这些基本是样品本身或试剂造成的。

可以换一下积分方式。如峰高积分。

或缩小积分范围，尽量减少光谱干扰对结果的影响。