主题：【求助】双电荷过高问题

可能是我们的功率较高，但是问过工程师，他总是说厂商建议用高的功率，双电荷高点也没问题，可以用。唉，悲催呀，功率调下来，氧化物又高了。

原文由 简单的HM(v2688162) 发表:
可能是我们的功率较高，但是问过工程师，他总是说厂商建议用高的功率，双电荷高点也没问题，可以用。唉，悲催呀，功率调下来，氧化物又高了。

问题还是没有解决吗？平常我用1550W，双电荷也没问题呀！赶紧再问问工程师，问题解决了再给大伙儿分享下！

我觉得安捷伦太耍滑头了~双电荷容易超的元素应该是Ba，而且ICP-MS的校准规程也是用Ba来校准，安捷伦的出厂指标以及调谐溶液里面就没有Ba这个元素，用Ce来代替。那天实测了一下，Ba的双电荷刚刚3.1%的时候，Ce的双电荷才有1.5%。功率同样是1550W

这条贴是回复楼上的，点错了

原文由 tuxlin(tuxlin) 发表:
双电荷产率在3%-5%，确实比较高了。
一般双电荷过高，可降低等离子体功率、调节雾化气流速、炬管采样距离等。如果还不行，仪器应该还在保修期内，让仪器工程师来调试。

也可以尝试调整make up gas 的流量

原文由 nie02081360(nie02081360) 发表:

原文由 tuxlin(tuxlin) 发表:
双电荷产率在3%-5%，确实比较高了。
一般双电荷过高，可降低等离子体功率、调节雾化气流速、炬管采样距离等。如果还不行，仪器应该还在保修期内，让仪器工程师来调试。

也可以尝试调整make up gas 的流量

LZ的仪器是热电的Qc，没有make up gas。

双电荷与氧化物确实有点翘翘板，很难兼顾，权衡一下吧。氧化物太高，可以降低雾化气流速、调远炬管位置。

原文由 孩孩才不是书痴呢(v2830655) 发表:
我觉得安捷伦太耍滑头了~双电荷容易超的元素应该是Ba，而且ICP-MS的校准规程也是用Ba来校准，安捷伦的出厂指标以及调谐溶液里面就没有Ba这个元素，用Ce来代替。那天实测了一下，Ba的双电荷刚刚3.1%的时候，Ce的双电荷才有1.5%。功率同样是1550W

（1）《JJF 1159-2006 四极杆电感耦合等离子体质谱仪校准规范》这份校准规范明显是各个仪器厂家相互争夺，又不得不相互妥协的产物：Agilent 调谐液 Li Mg Co Y Ce Tl；PE调谐液 Be Mg Co Rh In Ba Ce Pb U；Thermo调谐液 Li Co Cu In Ba Ce U；Varian/Bruker调谐液 Be In Ba Ce Th。于是《2006版 四极杆ICPMS校准规范》采纳 Be In Bi 作为默认指标（轻质量采纳PE Bruker；中质量采纳PE/Bruker/Thermo三家；四家ICP-MS都没有Bi，于是计量院自创Bi），又采纳 Li Y Tl 作为备用指标——看着是倾向于Agilent——但紧接着添加一条“技术指标不变”。



稍有同位素知识的人都知道，205Tl自然丰度只有70.48%，209Bi自然丰度100%，238U自然丰度99.274%（接近100%），205Tl的灵敏度要除以 70.48%（即乘以1.42），等价于 209Bi或238U灵敏度指标。结果《2006版 四极杆ICPMS校准规范》一句“技术指标不变”，就把 Agilent 重质量灵敏度打七折了。

同理，双电荷产率采用 Ba做指标，氧化物产率采用Ce做指标，我估计都是各家妥协的结果。

（2）Ba的第一电离能 5.21eV，第二电离能10.00eV
    Ce的第一电离能 5.54eV，第二电离能10.85eV

因为 Ba的第二电离能比Ce低，理论上 Ba++比Ce++更容易形成。由于双电荷产率 M++/M+ 是一个比值，刚才说了分子 M++，显然也得考虑分母 M+ ：Ba的第一电离能同样比Ce低，那么 Ba+ 比 Ce+ 更容易形成。分子大，分母也大，整个分数值可高，也可低。

如果你是新仪器、新调谐液：Ba双电荷产率 跟 Ce双电荷产率 差不多。不可能出现你说的 Ba++双电荷产率3.1%、Ce++双电荷产率1.5% 这么悬殊的结果。

为什么强调是新仪器呢？如果你测过大量样品，进样系统被 Ga Ge污染，清洗不干净，那么69amu计数= 138Ba++ 加上 69Ga，70amu计数= 140Ce++ 加上 70Ge。同理，如果调谐液被 Ga Ge 污染……

原文由 简单的HM(v2688162) 发表:
各位大侠，小妹我自从接手这台ICAP Q ICP-MS以来双电和（Ba）就高于限制2%，一般情况为3-5%，有哪位大侠给指导下呀。仪器已经安装快一年了。也冲洗了进样系统，换了新锥，还是很高。调谐液为厂家的未污染。谢谢了！

对于半导体高纯试剂测试（例如多晶硅、高纯酸液 HF/HCl/HNO3等），双电荷产率放宽到 5-6%都没问题。因为这类测试对象主要是Li Be B Na Mg K Ca V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se Rb Sr 这类轻、中质量元素，而重质量杂质元素本身就很少了，206Pb++ 干扰 103Rh+ 那就很少了。所以可以牺牲/放任 双电荷产率，换取 高灵敏度、低氧化物产率等指标，使得BEC&DL同步降低 。

我记得楼主是做高纯稀土 杂质测定，稀土元素从139到176amu都有分布，它们的双电荷就会对70-88amu这段质量数有影响。

1、使用一年的仪器，虽然样品量还算中等，但没被你所说元素污染过。因为用手动调谐模式监测过背景值，也因谨慎起见，全部更换过进样管，并将内标管给取了下来。

2、安捷伦的调谐液为1ppb，当时来校准的工程师所带的Ba溶液为10ppb，当时出来的结果为3.1%我就觉得很诧异，因为开机时调谐的Ce氧化物数据为1.5%。仔细一想，不仅工程师的校准液有可能污染，而且浓度不同，元素不同，差异也会很大。我正着手准备研究两个双电荷之间差异大的问题何在，但这几天样品有点多，一个人一天20批样品以上，这个问题我研究清楚自然会有交代。

3、我所说的安捷伦耍滑头，不仅双电荷采用Ce这个更不易产生双电荷的元素，而且跟用户解释的时候，依旧采用3%的双电荷可接受限。并且，安捷伦的背景值在高质量数，至少在我这台仪器，无法做到5CPS以下，它的出厂指标的背景值也只要求7质量数的离轴背景值为5CPS以下，这样的指标，无法让我认为安捷伦按照中国的规程做事，也无法让我认为安捷伦没耍滑头。

4、做实验有一分数据说一分话，我保证我所说的数据信息全部是真的，但我不敢保证我的分析是正确无误的。我希望在这里学习到各位老师的宝贵经验，与大家共同进步，谢谢各位老师支持。

原文由 孩孩才不是书痴呢(v2830655) 发表:
2、安捷伦的调谐液为1ppb，当时来校准的工程师所带的Ba溶液为10ppb，当时出来的结果为3.1%我就觉得很诧异，因为开机时调谐的Ce氧化物数据为1.5%。仔细一想，不仅工程师的校准液有可能污染，而且浓度不同，元素不同，差异也会很大。我正着手准备研究两个双电荷之间差异大的问题何在，但这几天样品有点多，一个人一天20批样品以上，这个问题我研究清楚自然会有交代。

简单得很啊，用 Ba单标、Ce单标配出10ppb Ba和Ce的混标，上机试试不就知道了?

原文由 孩孩才不是书痴呢(v2830655) 发表:
3、我所说的安捷伦耍滑头，不仅双电荷采用Ce这个更不易产生双电荷的元素，而且跟用户解释的时候，依旧采用3%的双电荷可接受限。并且，安捷伦的背景值在高质量数，至少在我这台仪器，无法做到5CPS以下，它的出厂指标的背景值也只要求7质量数的离轴背景值为5CPS以下，这样的指标，无法让我认为安捷伦按照中国的规程做事，也无法让我认为安捷伦没耍滑头。

请你去找类似下图的7700出厂实测指标证书。背景值是在 9amu，而非 7amu 采集的吧？
如果没记错，Thermo 是在 4.5amu上，PE是在 220amu上采集背景的。

原文由 孩孩才不是书痴呢(v2830655) 发表:

4、做实验有一分数据说一分话，我保证我所说的数据信息全部是真的，但我不敢保证我的分析是正确无误的。我希望在这里学习到各位老师的宝贵经验，与大家共同进步，谢谢各位老师支持。

先把第二条做了，再来讨论第四条。

分析数据是否准确，这个基本出发点都不牢靠，就去对天发誓“我保证我所说的数据信息全部是真的”，这有意义吗？

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:

原文由 孩孩才不是书痴呢(v2830655) 发表:
2、安捷伦的调谐液为1ppb，当时来校准的工程师所带的Ba溶液为10ppb，当时出来的结果为3.1%我就觉得很诧异，因为开机时调谐的Ce氧化物数据为1.5%。仔细一想，不仅工程师的校准液有可能污染，而且浓度不同，元素不同，差异也会很大。我正着手准备研究两个双电荷之间差异大的问题何在，但这几天样品有点多，一个人一天20批样品以上，这个问题我研究清楚自然会有交代。

简单得很啊，用 Ba单标、Ce单标配出10ppb Ba和Ce的混标，上机试试不就知道了?

分析数据是否准确，这个基本出发点都不牢靠，就去对天发誓“我保证我所说的数据信息全部是真的”，这有意义吗？

谢谢提供参考~