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主题：【讨论】E+H中文资料

浏览0 回复3 电梯直达
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发表于：2006/12/10 21:10:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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在哪里能找到E+H中文资料
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2006/12/10 21:34:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
E+H中文资料?请问具体是什么东西?
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2006/12/10 21:37:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
德国E+H公司晶片测量仪用途广
 
 
  据海外媒体报道，德国的Ｅ＋Ｈ公司（Eichhorn+Hausman）为世界级的专业半导体测量仪器设备制造商，致力于各种高精密非接触式晶片测厚仪器的研发与制造。
  Ｅ＋Ｈ公司的测量仪使用电容非接触式感应器，可测量薄膜沉淀后的翘曲度及薄膜应力，除提供各种相关的参数的计算结果，如厚度、总厚度应力、ＦＰＤ和弯曲度外，更可通过人性化的软件界面，轻松且快速的将资料整合输出。
  另外，此产品可提供快速准确的测量资讯，适用尺寸范围为１英寸至12英寸。即使大范围的12英寸芯片，每一次测量时间也不超过10秒。
  此外，Ｅ＋Ｈ的测量仪也可应用于其他如芯片加热过程中的弯曲度控制。


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2006/12/10 21:43:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
应该好找,到百度或者google去搜索啊
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