主题:【求助】ICP背景的扣除

浏览0 回复18 电梯直达
GR∮Dragon
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请问ICP背景的如何扣除?有没有比较成熟的方法.请指教,谢谢!!!
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蛋蛋
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在样品处理方面目前应用最多是就是基体匹配 另外各家的仪器自身的背景扣除方式也是不同的
GR∮Dragon
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原文由 sxm19810302 发表:
在样品处理方面目前应用最多是就是基体匹配 另外各家的仪器自身的背景扣除方式也是不同的
我第一次接触SPECTRO CIROS VISION.我还不知道怎么做.请指教.谢谢.如果有这方面的资料也可以发到我的EMAIL:longguanrun@163.com非常感谢!!!
GR∮Dragon
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在样品处理方面目前应用最多是就是基体匹配 另外各家的仪器自身的背景扣除方式也是不同的
我第一次接触SPECTRO CIROS VISION.我还不知道怎么做.请指教.谢谢.如果有这方面的资料也可以发到我的EMAIL:longguanrun@163.com非常感谢!!!
我用的型号:CIROS VISION
木偶
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地球人都知道
准确的讲背景问题有误差是无法避免的,对于背景比较复杂直接干扰的样品,也可以选择更换检测波长.
对于只是背景基线比较高的,选择近点扣除,误差不会很大..
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Last edit by chenhaoliang198
西北狼
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最成熟的方法就是软件自己提供的,但不是最好的,最好的应该你是自己通过分析谱图判断从那个地方扣最合适,不过对个人要求比较高
意境
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这个问题我也很想知道,刚刚接触ICP不久,关于这个问题问了同事,他只说仪器上本身有的,可是我感觉不适很理想,个人又不懂,真是郁闷呢
西北狼
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因为从理论上讲的话,无干扰的峰应该是均匀的高司分布的,你自己受动扣除的话就想办法半其他引起谱图不是高司分布的部分扣除就可以了
kantian2006
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原文由 sxm19810302 发表:
在样品处理方面目前应用最多是就是基体匹配 另外各家的仪器自身的背景扣除方式也是不同的


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怎么进行基体匹配?
wlytulip
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shaweinan
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原文由 longguanrun 发表:
  请问ICP背景的如何扣除?有没有比较成熟的方法.请指教,谢谢!!!


  对于没有谱线干扰和背景比较平坦或斜率不是很大的情况,一般可以直接通过谱线轮廓及附近的背景进行扣除。
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