主题:【求助】介孔薄膜XRD有介孔结构,询问这样的强度是否可以从TEM看出孔状结构(急)

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peggychenpy
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这是介孔氧化硅薄膜,用日本理学测试的(40KV,30 mA,Cu靶),附件是小角度衍射图谱,从图中看出是有介孔结构,但强度不太强,所以想问一下,是否可以从TEM中看出孔状结构?如果可以,大概怎样做样品前处理,还有哪里做比较好?
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天黑请闭眼
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你的XRD图谱是直接对薄膜做的?还是刮下来的?
另外,图谱如果只有一个信号峰,很可能是wormlike孔道,如果想得到有序结构,还得继续努力!
天黑请闭眼
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peggychenpy
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不好意思,新手,忘了发附件,我这个样品是直接测试的,没有刮下来的
peggychenpy
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我声望没达到50,但我发附件.但这个附件要等所在版面或巡视等验证后,才能显示.所以不知道什么时候才能显示
怪味陈皮
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原文由 peggychenpy 发表:
我声望没达到50,但我发附件.但这个附件要等所在版面或巡视等验证后,才能显示.所以不知道什么时候才能显示

你的XRD图没有发上来,发上来后自然会有人验证,验证通过后就会显示.
天黑请闭眼
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楼主似乎在小木虫也发帖问了,已经有牛人给解释,呵呵。
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