原文由 shxie 发表:
那么,现在有XSTEM,是不是更准确?
这样说吧,如果拿标准Si粉(比如 SRM640, a = 5.4307 Ǻ,at R.T.),我们使用以下几种技术定量来比较标准差(standard error,σ):
1)SR_XRD (比如 100 MeV, 波长0.0001Ǻ),σ原则上可以非常小,但实际标准样品本身的a值误差约在0.001Ǻ,所以practically,σ~0.001Ǻ;
2)Cu-alpha_XRD (8 keV, 波长1.54 Ǻ),波长相对较长,但利用宽角度细扫(2θ:1~100deg, 0.005 step, 2万个数据点),充分利用多个衍射峰信息,使用全谱拟合,practically, σ~0.01Ǻ 的精度;
3)电镜--哪怕是你提到的xstem?--多晶衍射环(300 keV, 波长约0.02Ǻ),波长相对Cu-a较小,但是衍射角很小,在当前现有技术下,在0.01~ 1deg之间我们能探测的最多点数是很受限制的,况且多数时候靠人眼去分辨,加上相机长度、标尺的误差,我没有见过通过电镜衍射得到σ小于0.1Ǻ的标定。如果你见过,还望指教我,给我一个文献,呵呵,谢谢