主题:【求助】粉末压片谱线角度和背景的选择?

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xuedingshuai
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小弟刚进入这个行业,要做岩矿粉末压片法!  用的仪器是岛津XRF1500.

看了很多文献,有很多不明白的地方,请各位指教 ! 

1.  粉末压片谱线角度和背景的选择? 比如Si, 很多文献给的角度不一样  不过,都在 108度左右这个角度的选择是自己选

    还是,选择了Ka谱线,和分光晶体以后,仪器自动给出角度?


2  衰减器--attenuation (图中紫圈)  这个衰减器主要起什么作用? 每个元素都需要人工指定一个值吗?

    比如 1/20,1/2等等还是仪器自动根据样品,决定是否用衰减。


3    PHA值的设定  看了很多文献  对同一个元素,设定值的上限阈值都不一样?有统一标准吗? 还是最后根据测试结果自己调整


4    Threshold  (图片红圈处) 这个是做什么用的?



这是应用软件的截图


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alexright
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1. 
选择了谱线和晶体之后,角度就是确定的。


2  衰减器--attenuation (图中紫圈) 
每个元素不需要人工指定,一般为默认。根据实际需要来选择衰减。和第四个问题联系起来。
图中的两个是不一样的。上面的那个是使用滤光片进行,如Be窗的作用(还有其他的材质)。下面的紫框中,也是采用部分遮挡的方式,只是简单的衰减。


3    PHA值的设定 
    没有统一的数值,但有一致的原理。PHA是排除高次线干扰用的。

4    Threshold  (图片红圈处) 这个是做什么用的?
检测器有计数的范围,这个应该是设置极限范围的。和前面的1/2,1/20联系起来,能自动衰减。



这是应用软件的截图


沧浪之水
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原文由 沧浪之水(j-xinjun9802) 发表:
岛津的?是顺序式的还是固定道的?


是顺序式
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原文由 alexright(alexright) 发表:
1. 
选择了谱线和晶体之后,角度就是确定的。


2  衰减器--attenuation (图中紫圈) 
每个元素不需要人工指定,一般为默认。根据实际需要来选择衰减。和第四个问题联系起来。
图中的两个是不一样的。上面的那个是使用滤光片进行,如Be窗的作用(还有其他的材质)。下面的紫框中,也是采用部分遮挡的方式,只是简单的衰减。


3    PHA值的设定 
    没有统一的数值,但有一致的原理。PHA是排除高次线干扰用的。

4    Threshold  (图片红圈处) 这个是做什么用的?
检测器有计数的范围,这个应该是设置极限范围的。和前面的1/2,1/20联系起来,能自动衰减。



这是应用软件的截图




您对第一个问题回答不够完全! 1. 粉末压片谱线角度和背景的选择? 选择了谱线和晶体之后,角度就是确定的。

那背景怎么选择呢? 有很多文献都只有给出一个值?但是软件却给出了一个范围? 这是怎么回事?  需要对照文献做吗?

还是根据情况自己选择背景范围? 如图中紫色框内为文献上给出的值
xuedingshuai
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如图!  红圈内 这个是角度选择范围? 那背景选择一般如何选择呢?
qitianzhiwai
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lailai
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原文由 xuedingshuai(xuedingshuai) 发表:
如图!  红圈内 这个是角度选择范围? 那背景选择一般如何选择呢?

红圈内 这个是角度指的是进行扫描时的扫描范围。背景一般要进行样品扫描以后才能确定的。
xulaoq
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若是做一般的定性分析,角度偏一点也无妨,用默认值即可,PHA也一样。若是做定量分析,角度都是自己做精细扫描后定出。文献上给的角度因光谱仪的机械构件的差异,每台机子之间都会有偏差。不同机子,不同样品合适的PHA也不同。
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