主题：【求助】请问ICP-OES是使用峰高还是峰面积定量的？

原文由 bigbighead(bigbighead) 发表:
采用固态检测器（CCD或CID）检测时，不是峰高或峰面积的概念，是采用几个像素进行计算的个概念。无论是Varian，热电还是其他公司的，你可以在软件上设定是用几个像素，Varian默认是2，热电默认是3，最多好像是7；你可以认为采用1，相对于峰高，采用7相对于峰面积。但是我一般比较喜欢用1，因为经常那样的光谱干扰是最小。

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采用固态检测器（CCD或CID）检测时，不是峰高或峰面积的概念，是采用几个像素进行计算的个概念。无论是Varian，热电还是其他公司的，你可以在软件上设定是用几个像素，Varian默认是2，热电默认是3，最多好像是7；你可以认为采用1，相对于峰高，采用7相对于峰面积。但是我一般比较喜欢用1，因为经常那样的光谱干扰是最小。

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采用固态检测器（CCD或CID）检测时，不是峰高或峰面积的概念，是采用几个像素进行计算的个概念。无论是Varian，热电还是其他公司的，你可以在软件上设定是用几个像素，Varian默认是2，热电默认是3，最多好像是7；你可以认为采用1，相对于峰高，采用7相对于峰面积。但是我一般比较喜欢用1，因为经常那样的光谱干扰是最小。

原文由 只是蝴蝶不愿意(nhl0103) 发表:

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采用固态检测器（CCD或CID）检测时，不是峰高或峰面积的概念，是采用几个像素进行计算的个概念。无论是Varian，热电还是其他公司的，你可以在软件上设定是用几个像素，Varian默认是2，热电默认是3，最多好像是7；你可以认为采用1，相对于峰高，采用7相对于峰面积。但是我一般比较喜欢用1，因为经常那样的光谱干扰是最小。

在设置的时候其积分的面积的宽度有什么要求？不会是随便设的吧？

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原文由 只是蝴蝶不愿意(nhl0103) 发表:

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采用固态检测器（CCD或CID）检测时，不是峰高或峰面积的概念，是采用几个像素进行计算的个概念。无论是Varian，热电还是其他公司的，你可以在软件上设定是用几个像素，Varian默认是2，热电默认是3，最多好像是7；你可以认为采用1，相对于峰高，采用7相对于峰面积。但是我一般比较喜欢用1，因为经常那样的光谱干扰是最小。

在设置的时候其积分的面积的宽度有什么要求？不会是随便设的吧？

如果没有干扰，设定1到7，都差别不大；如果有干扰，就注意躲开它，看你的判断，一边我都选1；还有如果含量特别低，一般也是选1，相当于峰高

原文由 只是蝴蝶不愿意(nhl0103) 发表:

那金属样品呢，这个算干扰比较大了，选1？对于PE的机子，其能否修改？改了之后数值是否会改变？

原文由bigbighead(bigbighead)发表:采用固态检测器（CCD或CID）检测时，不是峰高或峰面积的概念，是采用几个像素进行计算的个概念。无论是Varian，热电还是其他公司的，你可以在软件上设定是用几个像素，Varian默认是2，热电默认是3，最多好像是7；你可以认为采用1，相对于峰高，采用7相对于峰面积。但是我一般比较喜欢用1，因为经常那样的光谱干扰是最小。