主题:【已应助】采用粉末压片-X荧光测定时对样品的粒度有什么要求?

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阿丸
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采用粉末压片-X荧光测定时对样品的粒度有什么要求?
推荐答案:123回复于2022/01/22
一般样品可粉碎至74μm以下(通过200目筛子),最好的可以达到20μm左右
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JOE HUI
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样品的粒度要求研磨至0.076mm以下,以保证测定结果的准确性。
123
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一般样品可粉碎至74μm以下(通过200目筛子),最好的可以达到20μm左右
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