紫外可见分光光度计(UV)

主题:【求助】薄膜透射率测量

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luckywk
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测试薄膜的透射率是怎么测量的?
用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗?我在不同的实验室做薄膜透射率时,有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考,这样可以测出透射率为薄膜的透射率,有的老师告诉我不可以这样做,因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的!

推荐答案:auto1235回复于2009/05/18


仔细分析的话,问题没有那么简单,
如果基体和薄膜之间没有相互影响的话,完全可以上面的要求做。
如果考虑相互间影响,则效果如下:


每个面或层都会有透射和反射,增透膜的效果估计就是透过的光在膜与膜之间反射最终提高了透过率而已。
补充答案:

tutm回复于2009/05/18


哈哈!你和auto123先生思考得很深入,估计他们那儿老师也已经考虑了反射光问题了,但楼主可能还没接触,先要试一下才会有体会,才能考虑周全些。

tony81回复于2009/05/18

我测试过反射率很高的东西
关键的问题在于 光度计本身的器件也会有反射
做个最简单的比喻

光透过样品后 照射到后面的接受器 接收器一般都有个平面保护片或则凸透镜
这时候问题就来了 保护片或者透镜本身也会有反射 光照上去之后 会再次反射到样品上 然后再次反射到接收器 就会引起误差

fragr回复于2009/05/18

如果是透射率,结果是去除反射和吸收后的透过光线的强度。

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tutm
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可能你做的课题是薄膜表面镀层试验,需要测试试样的透射率。

如果你想测的是整个薄膜的透射率(包括基体材料的作用),那应该按第二位老师的方法做。

如果你想测的是表面镀层对透射率变化的贡献(扣除了基体材料的影响),那可以按第一位老师的方法做。

但是建议你可以将两种方法结合起来,即分别用两种方法测试,它们两者可以更全面地说明镀层的作用,以及整体效果。
tony81
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如果样品反射很高 其实按照1做是对的
只是对仪器的要求比较高 测试光路要尽可能长的 这样反射的干扰会比较小
可以选择样品室两侧都是凸透镜的机器 或者两侧的保护片有点倾斜的机子
auto1235
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原文由 luckywk 发表:
测试薄膜的透射率是怎么测量的?
用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗?我在不同的实验室做薄膜透射率时,有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考,这样可以测出透射率为薄膜的透射率,

为什么在校零时不放上基板?

有的老师告诉我不可以这样做,因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的!

这种很复杂,需要把每个面的透射、反射、吸收然后再统一换算。

luckywk
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原文由 tutm 发表:
可能你做的课题是薄膜表面镀层试验,需要测试试样的透射率。

如果你想测的是整个薄膜的透射率(包括基体材料的作用),那应该按第二位老师的方法做。

如果你想测的是表面镀层对透射率变化的贡献(扣除了基体材料的影响),那可以按第一位老师的方法做。

但是建议你可以将两种方法结合起来,即分别用两种方法测试,它们两者可以更全面地说明镀层的作用,以及整体效果。


谢谢你的回复,懂了一些。但是还是有一些不懂,这里所谓的贡献和薄膜的透射率是不是一样呢?
tutm
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哦,对不起!我重新看了你的问题,你使用的好像是双光束仪器,那我1楼所说的不适用了,我还以为你用的是单光束仪器呢!
tutm
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2楼、3楼朋友的意见是有道理的。

一般薄膜透射率就是入射光强度与透射光强度之比,参比为空气就可以了。

tutm
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如果你的基体反射率很高,参比池只是空气,那光线检测器会处于光线强度相差极大的交替状态下工作。这可能会影响检测准确性,第一位老师的方法可能是考虑到了这一点,就象2楼tony81先生说的。
但是,可能基体参比和样品的反射光可能会相互干扰,也会影响你的测试,不过这时可以采取一些临时措施,比如在测试室的样品和参比之间放入一块高吸光的黑色挡光板,表面覆上黑色棉绒布之类,尽可能阻隔样品和参比之间反射光的干扰。tony81先生建议的要求比较高,可能你较难实现。

另外,如果按第一位老师方法,那应该按3楼auto1235先生提示的,在储存基线(校零)时就在样品和参比位置都放上基体。

综合我6楼回贴的意思是:一般薄膜样品可以按第二位老师的方法做,这样简单些;但是如果是很高反射性能的薄膜建议按第一位老师的方法做,可以减少检测不准情况。
fragr
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如果是透射率,结果是去除反射和吸收后的透过光线的强度。
tony81
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我测试过反射率很高的东西
关键的问题在于 光度计本身的器件也会有反射
做个最简单的比喻

光透过样品后 照射到后面的接受器 接收器一般都有个平面保护片或则凸透镜
这时候问题就来了 保护片或者透镜本身也会有反射 光照上去之后 会再次反射到样品上 然后再次反射到接收器 就会引起误差
luckywk
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原文由 tutm 发表:
如果你的基体反射率很高,参比池只是空气,那光线检测器会处于光线强度相差极大的交替状态下工作。这可能会影响检测准确性,第一位老师的方法可能是考虑到了这一点,就象2楼tony81先生说的。
但是,可能基体参比和样品的反射光可能会相互干扰,也会影响你的测试,不过这时可以采取一些临时措施,比如在测试室的样品和参比之间放入一块高吸光的黑色挡光板,表面覆上黑色棉绒布之类,尽可能阻隔样品和参比之间反射光的干扰。tony81先生建议的要求比较高,可能你较难实现。

另外,如果按第一位老师方法,那应该按3楼auto1235先生提示的,在储存基线(校零)时就在样品和参比位置都放上基体。

综合我6楼回贴的意思是:一般薄膜样品可以按第二位老师的方法做,这样简单些;但是如果是很高反射性能的薄膜建议按第一位老师的方法做,可以减少检测不准情况。


谢谢你这么认真的回答,按照你的解释我应该是按照不给参比池放试样作透射测试,但是做基线的时候放上空白的基体!
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