原文由 tutm 发表:
如果你的基体反射率很高,参比池只是空气,那光线检测器会处于光线强度相差极大的交替状态下工作。这可能会影响检测准确性,第一位老师的方法可能是考虑到了这一点,就象2楼tony81先生说的。
但是,可能基体参比和样品的反射光可能会相互干扰,也会影响你的测试,不过这时可以采取一些临时措施,比如在测试室的样品和参比之间放入一块高吸光的黑色挡光板,表面覆上黑色棉绒布之类,尽可能阻隔样品和参比之间反射光的干扰。tony81先生建议的要求比较高,可能你较难实现。
另外,如果按第一位老师方法,那应该按3楼auto1235先生提示的,在储存基线(校零)时就在样品和参比位置都放上基体。
综合我6楼回贴的意思是:一般薄膜样品可以按第二位老师的方法做,这样简单些;但是如果是很高反射性能的薄膜建议按第一位老师的方法做,可以减少检测不准情况。