主题:【求助】求教小角度XRD与掠入射XRD测量结构薄膜的区别

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nanofilm
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求教小角度XRD与掠入射XRD测量结构薄膜的区别
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zircon2008
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小角度XRD是指测0-10度的衍射,用于测介孔材料的孔径大小、或有机材料的长程有序等等。
掠入射是X光与样品夹角小于5度,固定入射角,X光射入待测材料的深度比常规浅,能够有效降低基底的干扰,多用于薄膜材料。
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