主题:【求助】戴安的IC测试卤素

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zhihong101
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原文由 qugd(qugd) 发表:
楼主请按下面的方法进行样品处理。

氟离子浓度高,肯定会影响其相邻的离子的测定。这种情况下要针对氟离子进行样品预处理,即设法降低氟离子浓度,而不影响其他卤素离子的浓度。将分析纯的粉状碳酸钙加到样品溶液中,搅拌后放置两到三个小时,这样氟会与碳酸钙发生置换反应,生成溶解性小的氟化钙,而释放出的碳酸根应该不会影响其他阴离子测定。样品的氟离子浓度采用样品适当稀释后另行分析即可。

我觉得楼上的那些建议都是瞎扯,根本不能解决问题。楼主是想在不影响其他卤素离子的浓度测定下把氟离子降到可以与其他离子一起测定。

用钙型阳离子交换树脂处理样品可能效果会更好,但需要注意进行空白实验。


这是很好的办法! 感谢!
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Last edit by zhihong101
jamulon
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jamulon
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zhihong101
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反馈一下换柱子后的测试情况:

新柱子, F-出峰5.9MIN, CL-11.6MIN, 

测试样品中由于F-太高,F-的峰还是拖到了约11MIN,由于CL-浓度太低仍然会有一些些影响到CL-的判断,但是已经可以明确知道大概浓度。后来在样品溶液中加了约1PPM的CL-, F-,CL-峰就已经可分的很好。

我们问题已经解决!
zhihong101
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此案已结,在此感谢各位版友及时和热情的提供建议及帮助。
zxy49231
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