主题:【求助】怎样确定样品薄区厚度

浏览0 回复4 电梯直达
cynthia19860916
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老板用FIB做了TEM样品,让我确定薄区的厚度,提了下用倾转的方法,我不是很明白。请教各位一下具体方法,谢啦。
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蓝莓口香糖
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TEM里估算厚度的方法有好几种,但没有绝对好用的,看你要做哪方面的内容了。
cynthia19860916
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
TEM里估算厚度的方法有好几种,但没有绝对好用的,看你要做哪方面的内容了。

谢谢,可不可以详细点,或者给几篇参考文献也行。我的样品本来就是薄膜材料,老板问我减薄后的厚度。
怪味陈皮
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利用样品边缘的等厚干涉条纹、CBED和EELS都可以测量样品的厚度,等厚干涉条纹方法一般的透射电镜方面的书都会介绍,CBED方法可以参考《高空间分辨分析电子显微学》和《透射电子显微学进展》,EELS方法可以看一下《Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope 》R.F. Egerton。这些方法测量样品厚度都有误差。
另外,你FIB的时候为什么不在扫描里直接看一下厚度?
xiao7
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这种样品做sem是最好的。
有substrate的吧,可以激光切割一下看截面。
文献中的截面图就是这么来的。
无基底的薄膜、graphene之流的才需要tem下看厚度。
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