主题:如何扣除xps的shirely和touggard背景

浏览0 回复62 电梯直达
shxie
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原文由 wuzl 发表:
C D Wagner的手册中所用的C1s校准峰为284.8eV,而不是所说的284.6eV。你可以查到多种校正参考数据。但没有标准数据。因为所说的污染碳是什么,没有准确的结构,且在不同的衬底上不同的厚度,峰都会有偏。荷电校准是个值得研究的问题。需要有一定的经验和工作积累。另外,用于比对的实验能谱数据没有标准数据只有参考数据。现在的问题,你所测的数据,需要多准?如果污染碳不符合你的精度,可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准?倒是在实际实验中要注意样品表面分析区内荷电要均匀。如果你不满意的话,你可以email给我一份数据,我帮你看看,报告诉我样品的情况和前期处理条件。

那是不是这样?如果不知道污染碳结构,可以通过其他已知的稳定结构来作标准?比如负载性催化剂,可以利用载体的标准峰来做校准反而比C来的准确。
顺便问一下,这个CD wagner的手册哪里有呢?有电子版就好了。
feixiong5134
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其实说实在的我也不知道该怎么说,我刚刚开始负责一台xps,我对它可以说是非常迷茫,不知道该从何处下手.对了还想问的是,后天我要回家.因为我这个是新手贴,如果结帐了能不能在看到各位大哥在这上面的留言.可是我不结帐,又怕被斑竹扣了积分.上次因为多点了一次被斑竹扣了5个声望和20个积分.不要再被斑竹扣了积分.
feixiong5134
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说实在的至于您说的数据需要多准,我也不清楚.但是以后有一天对仪器熟悉了.总要对外使用,不能让人家话钱,却得到不准确的数据.毕竟这是科学数据,不容许出一点马虎啊!
feixiong5134
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对了还有您说的关于荷电外移,我在一本书上看到过他有3种情况引起.其中有一种就是在在双面胶上压制时候尽量的要薄.如果太厚也容易引起荷电外移.但是如果你们用过双面胶也知道,如果样品太薄还容易粘在一起,所以老是做不好,要不厚要不薄,郁闷.
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如果污染碳不符合你的精度,可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准?

我在其他的文献上也看见过用其他的校正,如S和Si.但是我不知道什么时候用他们,因为他们也有荷电外移啊!而且以前有的时候有问题都不知道该问谁!不过现在好了,让我在一次偶然的机会认识了你们这些大哥,现在我总算可以有问的对象了.
feixiong5134
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[C D Wagner的手册中所用的C1s校准峰为284.8eV,而不是所说的284.6eV。你可以查到多种校正参考数据。但没有标准数据。因为所说的污染碳是什么,没有准确的结构,且在不同的衬底上不同的厚度,峰都会有偏。荷电校准是个值得研究的问题。需要有一定的经验和工作积累。另外,用于比对的实验能谱数据没有标准数据只有参考数据。现在的问题,你所测的数据,需要多准?如果污染碳不符合你的精度,可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准?倒是在实际实验中要注意样品表面分析区内荷电要均匀。如果你不满意的话,你可以email给我一份数据,我帮你看看,报告诉我样品的情况和前期处理条件。
那是不是这样?如果不知道污染碳结构,可以通过其他已知的稳定结构来作标准?比如负载性催化剂,可以利用载体的标准峰来做校准反而比C来的准确。
顺便问一下,这个CD wagner的手册哪里有呢?有电子版就好了。

是啊!我也在很多文献上看见过他们引用这本书,您有这本书的电子版吗?有的话给我们下载一下!麻烦您了.
feixiong5134
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原文由 shxie 发表:
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我现在要做原位xps,可是很多东西都不懂,郁闷啊!

有气氛的吗?看看这个:
Evidence for the Antioxidation Effect of Boron on the Ultrafine Amorphous Ni-B Alloy Catalyst
Dai, W.-L.; Li, H.-X.; Cao, Y.; Qiao, M.-H.; Fan, K.-N.; Deng, J.-F.;
Langmuir; (Note); 2002; 18(24); 9605-9608.  DOI: 10.1021/la026116l

大哥您给我的这篇文章在我们学校搜索不到,您能不能给我下载一篇.谢谢啊!
shxie
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大哥您给我的这篇文章在我们学校搜索不到,您能不能给我下载一篇.谢谢啊!

已经发送。
feixiong5134
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大哥您给我的这篇文章在我们学校搜索不到,您能不能给我下载一篇.谢谢啊!

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因为家里有点事情最近几天没有来上网,所以今天才看见你给我的email.谢谢您的帮忙!
wuzl
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C D Wagner的手册中所用的C1s校准峰为284.8eV,而不是所说的284.6eV。你可以查到多种校正参考数据。但没有标准数据。因为所说的污染碳是什么,没有准确的结构,且在不同的衬底上不同的厚度,峰都会有偏。荷电校准是个值得研究的问题。需要有一定的经验和工作积累。另外,用于比对的实验能谱数据没有标准数据只有参考数据。现在的问题,你所测的数据,需要多准?如果污染碳不符合你的精度,可用其它校准方法。关键是有没有必要费很大的劲去做这种校准?倒是在实际实验中要注意样品表面分析区内荷电要均匀。如果你不满意的话,你可以email给我一份数据,我帮你看看,报告诉我样品的情况和前期处理条件。

那是不是这样?如果不知道污染碳结构,可以通过其他已知的稳定结构来作标准?比如负载性催化剂,可以利用载体的标准峰来做校准反而比C来的准确。
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可以试试!催化剂载体与表面的催化剂荷电很可能不相同,要注意。
Phi的户有此书。或到国图,中科院图书管找到。较普遍。
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