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主题：【求助】icp-aes测试地矿样品中痕量pb如何提高灵敏度？

浏览0 回复13 电梯直达
xiazai119
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发表于：2013/08/06 00:04:12 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
icp-aes测试地矿样品中痕量pb，要求制备的样品溶液检出限》0.2ppm，请问icp-aes能达到这个要求么，有没办法提仪器的高灵敏度？样品基本为土壤样品，机体很复杂，只能选用220那条线，但是220波长的那条线标准的积分区域和样品的积分区域明显不同，不过结果比较接近。其他波长的谱图看起都比较正常，不过结果相差更远（质控样）。图片中红线为标准，蓝线为样品，黄线为标准空白。
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chun29
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2013/8/6 8:09:43 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
明显的基体干扰，采用基体匹配或标准加入法做。
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xiazai119
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2013/8/6 11:18:56 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 chun29(chun29) 发表:
明显的基体干扰，采用基体匹配或标准加入法做。


请问下基体匹配具体如何操作，大批量的样品，一天需要做4、5百件，标准加入不太现实啊
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sonne86400
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2013/8/6 13:11:26 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
你谱线选择168nm那条 最灵敏线 试试看呢
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千层峰
jxyan
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2013/8/6 16:37:08 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
是PE的机器吧？
谱图右侧有大峰干扰，看看右侧是什么元素在干扰，可以用MSF方法消除影响。
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sasha
540019326qq
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2013/8/6 20:40:34 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
ICP_AES做到0.2ppm还是可以的。
从你的谱图来看，在测试样品时，右边有一个很大的干扰，背景上扬，是否可以采用单边扣背景？
由于地质样品基体比较复杂，做到完全的基质匹配也不太现实。
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xiazai119
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2013/8/6 21:38:05 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
你谱线选择168nm那条 最灵敏线 试试看呢


168nm的属于紫外区的谱线吧，紫外区的还没试过，太费气了
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xiazai119
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2013/8/6 21:40:24 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 千层峰(jxyan) 发表:
是PE的机器吧？
谱图右侧有大峰干扰，看看右侧是什么元素在干扰，可以用MSF方法消除影响。


是pe的，msf只是看到仪器上有这玩意，一直没用过，刚接触这个，工程师也没讲那个
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xiazai119
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2013/8/6 21:42:25 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 sasha(540019326qq) 发表:
ICP_AES做到0.2ppm还是可以的。
从你的谱图来看，在测试样品时，右边有一个很大的干扰，背景上扬，是否可以采用单边扣背景？
由于地质样品基体比较复杂，做到完全的基质匹配也不太现实。


用标准曲线反测标准，勉强可以达到，不过误差都挺大，强度太低了，测样品根本就不行了
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sasha
540019326qq
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2013/8/6 21:44:50 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 xiazai119(xiazai119) 发表:
原文由 sasha(540019326qq) 发表:
ICP_AES做到0.2ppm还是可以的。
从你的谱图来看，在测试样品时，右边有一个很大的干扰，背景上扬，是否可以采用单边扣背景？
由于地质样品基体比较复杂，做到完全的基质匹配也不太现实。


用标准曲线反测标准，勉强可以达到，不过误差都挺大，强度太低了，测样品根本就不行了


前些天我一个同事做首饰，也遇到类似你的那种情况，后面背景漂的很厉害
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xiazai119
xiazai119
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2013/8/6 21:52:51 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这个更离谱，谱线完全看不到峰了
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