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ID:xiazai119
行业:其他
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ID:chun29
原文由 chun29(chun29) 发表:明显的基体干扰,采用基体匹配或标准加入法做。
ID:sonne86400
原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:你谱线选择168nm那条 最灵敏线 试试看呢
ID:jxyan
ID:540019326qq
原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:你谱线选择168nm那条 最灵敏线 试试看呢168nm的属于紫外区的谱线吧,紫外区的还没试过,太费气了
原文由 千层峰(jxyan) 发表:是PE的机器吧?谱图右侧有大峰干扰,看看右侧是什么元素在干扰,可以用MSF方法消除影响。
原文由 sasha(540019326qq) 发表:ICP_AES做到0.2ppm还是可以的。从你的谱图来看,在测试样品时,右边有一个很大的干扰,背景上扬,是否可以采用单边扣背景?由于地质样品基体比较复杂,做到完全的基质匹配也不太现实。
原文由 xiazai119(xiazai119) 发表:原文由 sasha(540019326qq) 发表:ICP_AES做到0.2ppm还是可以的。从你的谱图来看,在测试样品时,右边有一个很大的干扰,背景上扬,是否可以采用单边扣背景?由于地质样品基体比较复杂,做到完全的基质匹配也不太现实。用标准曲线反测标准,勉强可以达到,不过误差都挺大,强度太低了,测样品根本就不行了