主题:【求助】用气质SIM定量后,还需要不需要再scan一遍?

浏览0 回复25 电梯直达
海苔和紫菜
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原文由 風痕(yiwang520) 发表:

一般如果离子比例显著低于设定值,可以判定为假阳性。如果是显著高于,要么是其他化合物,要么是样品基质的离子干扰。这种时候还是建议全扫一下比较保险。
请问这个设定值怎么设?在哪里看呢
symmacros
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原文由 海苔和紫菜(v3147589) 发表:
请问这个设定值怎么设?在哪里看呢
离子比例可以在工作站设置。
風痕
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原文由 海苔和紫菜(v3147589)发表:
原文由  風痕(yiwang520) 发表:

一般如果离子比例显著低于设定值,可以判定为假阳性。如果是显著高于,要么是其他化合物,要么是样品基质的离子干扰。这种时候还是建议全扫一下比较保险。
请问这个设定值怎么设?在哪里看呢
安捷伦仪器可以通过口令normal 100看一个质谱图以最高离子为100的比例。获取这个比例后可以更新到定量方法里。一般直接用定量方法产生的离子比例也可以。
PAEs
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气质SIM定量后,不需要再scan一遍了!
scan 是定性的,sim 是定量的!
雾非雾
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感觉没有太大的必要,因为在SIM模式上响应要比SCAN要大很多,除非是在SIM模式上不确定,需要重新再确认。
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