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主题：【求助】FTIR识谱问题

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lcbn_2003
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发表于：2006/12/09 20:41:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我用Perkin－Elmer GX型FTIR谱仪测试的SiO2薄膜与Nicolet NEXUS 670型FTIR谱仪测试结果出入很大，扫描模式均为衰减全反射法，有哪位专家给出点意见，到底哪一个正确呢？
也就是说，不同机型测试得到的谱有没有可比性？
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2006/12/10 20:02:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请楼主详细描述一下差异在哪里。
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chem_man
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2006/12/26 2:32:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
定性可以 定量不大可能的
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