原文由 光哥(xsh1234567) 发表:
1:高背景元素,像K Ca Fe Cr Mn 元素,应该用KED模式测试吗?还是用KED coolplasma 还是工程师给配置新的standard unlinked模式进行测试。
He+Coolplasma,或者单独的Coolplasma模式
2:如何用ICPMS测试Si 元素,不考虑氢气,用standard模式测试吗? 空白高怎么办?
没有配H2通道??那你可能Coolplasma也没法做。应该是A家的机器吧?Coolplasma模式需要S透镜的配合
3:Si元素比较难测试,所以我只做两个标样点 和一个空白点,做一条简单曲线,这样可行吗?
Coolplasma模式下测44SiOH,灵敏度要看你测多低,正常情况下够用。
以上问题,取决于你要测到多低
1:有KED和KED coolplasma 是两种方式,意思是测试高背景用KED coolplasma? 我之前用的就是单纯的KED。。。。
2:PE nexION1000G仪器 ,我理解你话的意思你看这样对吗? 意思是:Si的测试想达到浓度越低,只能用KED Coolplasma 模式结合氢气,才能检测??
3:我用的标准模式,空白信号值都有6万多....100ppb标样信号值值7万多!(我想上传图片,上传不了)
4:那老师能结合我现在的方式给予一个能测试Si的方法吗?万分感谢