主题：【第七届原创】最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对比

项目

XRF 型号

ZSX Primus/        ZSX Primus  II

AXIOS/

（AXIOS-ADVANCED）

ADVANT’XP+

XRF1800

生产厂家

日本理学公司

荷兰帕纳科公司

(原荷兰飞利浦公司)

赛默飞世尔

（原瑞士ARL公司）

日本岛津公司

推出时间

2003

2004

2000

1997

高

压

发

生

器

最大功率

4 kW

4 kW

4 kW

4.2 kW

4 kW

最大电流

170 mA

150 mA

125mA(160mA)

120 mA(140mA选项)

140 mA(150mA选项)

最大电压

60 kV

60 kV

60 kV

60 kV（70Kv）

60 kV

电流、电压快速切换功能

只能等功率切换，遇含量很高的样品时， 需要使用衰减器

只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用滤光片

只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用滤光片

只能等功率切换，遇含量很高的样品时，需要使用衰减器

能否满功率运行

能，并能长期满功率运行

不能

不能

不能

不能

发生器类型

固态式，模块化设计

油箱式

固态式，一体化设计

固态式，一体化设计

油箱式

发生器稳定性

外电压波动1%时为  优于0.00005%

外电压波动1%时为  0.0005%

外电压波动1%时为  0.00006%

外电压波动1%时为  0.0001%

外电压波动1%时为  0.0005%

X

光

管

低温光管技术

无

无

无

无

铍窗厚度

75μm(50μm可选）

75μm(30μm可选)

75μm（50μm可选）

75μm（50μm可选）

75μm

绝缘方式

陶瓷

玻璃

陶瓷

陶瓷

玻璃

光

路

设

计

样品照射方式

下照式，可测液体

下照式，可测液体/上照射

下照式，可测液体

下照式，可测液体

上照式，不能测液体

初级光路过滤器

10位

4位

4位

3位

5位

滤光片数量

7块

4块

3块

3块

4块

样品进出仪器时保护光管的污染防护屏1

1块

无

无

无

无

样品进出仪器时保护光谱室的污染防护屏2

1块（选项）

无

无

无

无

XRF 型号

ZSX Primus

AXIOS

ADVANT’XP+

XRF1800

测量过程中保护光管的防污染铍隔离膜

Duraberyllium^TM 高强度铍隔离膜(选项)

无

有

有（选项），但必须去掉一块滤光片才能安装此铍窗

无

测量过程中保护光谱室防止污染以及在不同类型样品间快速切换、节约氦气消耗的真空封挡，

有

有

无

有

无

封挡材料

高透光性、高强度的高分子材料

低透光性铍窗

无

低透光性铍窗

无

准直器面罩尺寸

34mm, 28mm, 23mm, 18mm,8mm, 5mm

35mm, 30mm, 20mm, 10mm,1mm, 0.5mm

37mm,30mm, 27mm, 20mm, 10mm, 6mm

38mm, 29mm, 15mm

30mm, 20mm, 10mm,3mm, 0.5mm

准直器交换器位数

最多可安装4个准直器（细、中、粗、超粗），共6种准直器规格可选购

最多可安装3个准直器（细、中、粗）

最多可安装3个准直器（细、中、粗）

最多可安装4个准直器（细、中、粗、超粗）

最多可安装3个准直器（细、中、粗）

晶体交换器位数

8位，16种晶体可选

10位，14种晶体可选

8位，14种晶体可选

9位，

10位，12种晶体可选

弯晶

Ge弯晶，PET弯晶

无

Ge弯晶，PET弯晶

无

无

XS-CEM晶体

无

无

无

无

光谱室温度稳定性

±0.05℃

±0.1℃

±0.05℃

±0.3℃

±0.3℃

测角仪

定位方式

θ/2θ分别驱动，光学定位系统

θ/2θ分别驱动，机械定位

θ/2θ分别驱动，直接光学位置传感器DOPS系统

θ/2θ分别驱动，莫尔条纹定位

θ/2θ分别驱动，机械定位

最小步长

0.0005°

0.001°

0.002°

XRF 型号

ZSX Primus

AXIOS

ADVANT’XP+

XRF1800

角度准确度

< +/-0.001°

+/- 0.005°

+/- 0.0025°

+/- 0.002°

角度重现性

+/- 0.0005°

+/- 0.0001°

+/- 0.0002°

+/- 0.0003°

最大扫描速度

1200°/分

240°/分

°/分

327°/分

300°/分

最大转角速度

2400°/分

1400°/分

°/分

4800°/分

1200°/分

检测系统

计数器类型

计数器窗膜厚度

0.6μm

0.6μm

1.0μm

0.9μm

1.0μm

多道分析器

512道

512道

512道

FC &

SFC

线性范围

大于3Mcps

最大2Mcps

最大3Mcps

最大2Mcps

最大2Mcps

动态匹配^TM技术

大于10Mcps

无

无

无

无

转动范围

17 ~ 152°

13 ~ 148°

13 ~ 148°

17 ~ 153°

7 ~ 148°

SC

线性范围

大于2.0Mcps

1.5Mcps

1.5Mcps

1.5Mcps

1Mcps

动态匹配^TM技术

大于10Mcps

无

无

无

无

转动范围

0 ~ 115°

5 ~ 118°

8 ~ 104°

0 ~ 115°

0 ~ 118°

进样系统

软件

样品最大尺寸

Φ52x47mm

Φ52x47mm

Φ51x40mm

Φ52x30mm

Φ51x38mm

样品自旋速度

30转/分

30转/分

30转/分

30转/分

60转/分

自动进样器

48位X-Y二维进样器

8位转盘进样器

样品类型自动识别功能

有

无

有

有

无

XRF 型号

ZSX Primus

AXIOS

ADVANT’XP+

XRF1800

定性、定量分析软件

SPECTRA^plus V2分析软件 

有

SuperQ

WinXRF

有

无标样分析软件

Uniquant为定点测量模式

只有扫瞄测量模式

无标样分析速度

最快小于2分钟

最快15分钟以上

最快2分钟以上

最快10分钟以上

最快15分钟以上

定量分析与无标样分析结合模式

有

无

无

无

无

动态匹配^TM技术

有

无

无

无

无

理论α系数法

有

有

有

有

有

经验α系数法

有

有

有

有

有

变动理论α系数法

有

无

无

无

无

厚度修正功能

有

有

有

有

有

制样方法修正

有

无

无

无

无

自诊断软件

S8 Tools 软件

有

有

有

有

远程诊断

远程服务-维护-支持软件

有

有

有

无

多层膜分析软件

ML^PLUS

有

有

有

有

氧化物分析软件

GEO-QUANT M软件

无

WROXI氧化物软件包

无

无

地质样品中微量元素专用分析软件

GEO-QUANT T软件

无

Pro-trace软件

无

无

水泥分析软件

CEMENT-QUANT软件

无

无

无

无

RoHS/WEEE软件

RoHS-QUANT软件

无

有

无

无

油品分析专用软件

PETRO-QUANT软件

无

无

无

无

金属材料分析软件

METAL-QUAN软件

无

NiFeCo软件包，铜基软件包

无

无

XRF 型号

ZSX Primus

AXIOS

ADVANT’XP+

XRF1800

计算机

主机

戴尔计算机，四核，最新配置

计算机国内供货

戴尔计算机，双核，最新配置

计算机国内供货

计算机国内供货

显示器

19"液晶

19"液晶

19"液晶

19"液晶

17"液晶

触屏控制^TM

无

无

无

无

安全标准

通过ISO9001及EN29001认证

通过ISO9001认证

通过ISO9001认证

通过ISO9001认证

通过ISO9001认证

欧洲安全认证

通过CE认证

未通过CE认证

通过CE认证

通过CE认证

未通过CE认证

射线防护认证

DIN 54113等

尺寸

1350 x 840 x 1040

1510 x 840 x 980

9400 x 830 x 1090

1770 x 1080 x 1350

重量

千克

476kg

550kg

450kg

760kg