原文由 iamikaruk 发表:
原文由 ustb 发表:
通道效应是Van Dyck学派解释高分辨像衬度时常用的理论。一般情况下,只有样品厚度满足弱相位物近似,在Scherzer欠焦条件下得到的高分辨像才可以直接解释为样品的投影结构,此时黑点代表原子。但弱相位物近似比较苛刻,很难达到。
中科院物理所李方华院士提出一个赝弱相位物理论。我们知道在弱相位物近似下像强度与样品样品的投影势呈线性关系,重原子比轻原子衬度高。随着样品厚度的增加,轻原子的衬度会增加,而重原子的衬度会降低。当样品厚度增加到一定值时,重原子会变得无衬度,甚至轻重原子的衬度会发生反转。根据这个规律,在进行图像处理时可以将对样品厚度的要求放宽到赝弱相位物近似。
关于Van Dyck的通道效应接触得不多,只听他讲过一次。简单地说就是将一个个原子看成是一个个凸透镜,重原子比轻原子对电子的会聚能力更强一些。我有一张他讲座时PPT,可能对大家有帮助。
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关于非线性成像,简单来说就是考虑了衍射束之间的相互作用。准确描述成像系统对像强度的影响应该用TCC(Transmission Cross Coefficien)理论,TCC是不做任何近似。
对,TCC方法很适合于解析表达与分析,可详见陈江华04年与van Dyck发表在Ultramicroscopy上的文章。顺便说一下,在实际模拟计算中,TCC方法并不实用,尽管spatial coherence的包络可以近似分离,但是temporal coherence的包络无法分离,因此需要4维的计算。一般情况下都是采用2维的incoherent summation方法。准确来说,TCC表达式是由incoherent summation方法推导出来的。
陈江华的文章之前我已经看了,我想虽然我们的TEM没有办法与球差校正的电镜比分辨率,但是我觉得从他的文章可以看出,非线性成像或者channeling-contrast imaging确确实实可以提高分辨率,特别是对于比较厚的样品。也就是说,偶尔在普通的电镜上的得到反映出这种看上去像dumbbell结构的HRTEM,也是完全可能的。
因为小弟接触比较少,看看各位有什么建议。
还有这句话怎么理解:
However, for linear atomic imaging the
resolution achievable is degraded by the noise,
while for non-linear atomic imaging the resolution
can be enhanced by the dynamic electron channeling
effect in a zone orientation. 引自陈老师的Ultramicroscopy
我的意思是,channeling effect和non-linear atomic imaging二者之间有什么联系?