原文由 夕阳(anping) 发表:原文由 jack510070(jack510070) 发表:
除了这三种外,连续光源AAS采用临近波长背景校正法,商品仪器中就没有其他的方法了。
007版友能否讲讲临近谱线背景校正方法的优缺点吗?您是这方面名至实归的专家,给大家补补课如何?拜托啦!
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除了这三种外,连续光源AAS采用临近波长背景校正法,商品仪器中就没有其他的方法了。
007版友能否讲讲临近谱线背景校正方法的优缺点吗?您是这方面名至实归的专家,给大家补补课如何?拜托啦!
其实也无所谓有缺点,连续光源只能用邻近波长背景校正法,而线光源无法采用这种方法,如是而已。
如果硬要比较,邻近波长背景校正法不需要附加的背景校正装置,具有简单性优势,不过,连续光源本身的复杂性完全掩盖了这点优势。
因为背景信息和样品信息取自同一光源,相同的分析体积,并且具有同时性,而且还没有塞曼背景校正法中因为反常塞曼效应导致的相对灵敏度损失。可以说,单单以背景校正而言,这种方法是最有优势的。
But!连续光源AAS本身的缺陷,例如在灵敏度、响应速度等方面,却又妨碍了整体性能的提升。连续光源AAS继续发展下去,随着半导体技术的进步,CCD器件的响应速度提高,或许能够解决速度问题,而光谱分辨率的提高,目前仅靠中阶梯光栅色散技术,进展有限。
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除了这三种外,连续光源AAS采用临近波长背景校正法,商品仪器中就没有其他的方法了。
007版友能否讲讲临近谱线背景校正方法的优缺点吗?您是这方面名至实归的专家,给大家补补课如何?拜托啦!
其实也无所谓有缺点,连续光源只能用邻近波长背景校正法,而线光源无法采用这种方法,如是而已。
如果硬要比较,邻近波长背景校正法不需要附加的背景校正装置,具有简单性优势,不过,连续光源本身的复杂性完全掩盖了这点优势。
因为背景信息和样品信息取自同一光源,相同的分析体积,并且具有同时性,而且还没有塞曼背景校正法中因为反常塞曼效应导致的相对灵敏度损失。可以说,单单以背景校正而言,这种方法是最有优势的。
But!连续光源AAS本身的缺陷,例如在灵敏度、响应速度等方面,却又妨碍了整体性能的提升。连续光源AAS继续发展下去,随着半导体技术的进步,CCD器件的响应速度提高,或许能够解决速度问题,而光谱分辨率的提高,目前仅靠中阶梯光栅色散技术,进展有限。
谢谢007版友的解答!但是连续光源的灵敏度和响应速度两个方面的缺陷是怎什么?是如何造成的?007版友能否再详解一回?
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除了这三种外,连续光源AAS采用临近波长背景校正法,商品仪器中就没有其他的方法了。
007版友能否讲讲临近谱线背景校正方法的优缺点吗?您是这方面名至实归的专家,给大家补补课如何?拜托啦!
其实也无所谓有缺点,连续光源只能用邻近波长背景校正法,而线光源无法采用这种方法,如是而已。
如果硬要比较,邻近波长背景校正法不需要附加的背景校正装置,具有简单性优势,不过,连续光源本身的复杂性完全掩盖了这点优势。
因为背景信息和样品信息取自同一光源,相同的分析体积,并且具有同时性,而且还没有塞曼背景校正法中因为反常塞曼效应导致的相对灵敏度损失。可以说,单单以背景校正而言,这种方法是最有优势的。
But!连续光源AAS本身的缺陷,例如在灵敏度、响应速度等方面,却又妨碍了整体性能的提升。连续光源AAS继续发展下去,随着半导体技术的进步,CCD器件的响应速度提高,或许能够解决速度问题,而光谱分辨率的提高,目前仅靠中阶梯光栅色散技术,进展有限。
谢谢007版友的解答!但是连续光源的灵敏度和响应速度两个方面的缺陷是怎什么?是如何造成的?007版友能否再详解一回?
在原子化技术相当的前提下,灵敏度主要受限于仪器的光谱分辨率。中阶梯光栅目前能够做到的最好的分辨能力只能到十几皮米,与HCL的几皮米谱线宽度仍有差距。再加上中阶梯光栅系统的杂散光比较严重,导致的非线性和灵敏度问题难以解决。
至于速度,石墨炉AAS需要100Hz的采样频率,才能够获取快速变化的吸光值信号信息。无论是CCD还是CMOS,要连续工作于这个频率下,难度还是挺大的。