cafu2000回复于2007/05/18
Rainwolf_Q回复于2007/05/18
什么性质的样品?水样浓缩后用硅钼蓝配合紫外不行吗?好像没有必要用ICP-MS啊。固体样品就更好说了,先用碱提取再测,需要注意的是尽量采用PP材料的器皿。
rofepeng回复于2007/05/18
首先必须避免污染,并且用99.999%的Ar.
在常规模式下,Si28的BEC大约为50ppb,DL<1ppb。P在常规模式下则非常差。
要达到更好的效果,Si、P均用H2为ORS气体。
molybdenum回复于2007/05/19
不知道你是什么样品,如果是硅酸盐类样品,消解的时候用到HF,生成的SiF4是挥发性的,可能有损失,这个可能是校准曲线作的很差主要原因吧。好像用碱熔可以避免这个问题,理论上应该是可行的。
测P的话应该问题不大,可以将所有的干扰元素检测一下,排除叠加的部分再试试。
原文由 szyf983 发表:
P的背景20ppb?!那你是做什么样品阿?怎么这么高?什么仪器?
我以前用cool plasma 作,背景都要控制在500ppt以下呢,我作半导体产业洁净室的空气污染。一般浓度含量也就10ppb以下的样品