主题:请问X射线能谱仪(EDS)固体探测器的发展状况和最新动态?

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chenxi
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请问X射线能谱仪(EDS)固体探测器的发展状况和最新动态?
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请与中国分析测试协会咨询委员会汪老师联系,电话:010-68512283
rfu
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请访问下面的网页:<br>
http://www.oxford-instruments.com.cn/product/ia/xrf/xrf.htm<br>
读: 电子显微学报,“低能(5keV)电子束X射线能谱分析的进展” 1998,03<br>
chenxi
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所答非所问,整个一个推销仪器者。而且信息也太陈旧了。<br>
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据我所知,目前,能量色散型X射线仪所使用的固体检测器为半导体固体检测器(SSD),它的优点是有极高的能量分辨率,可用来测量软X射线的能量和波长。缺点是需要在液氮温度(约-170℃)下才能正常工作,且售价很高。现在已有可适用于X射线检测工作的半导体电致冷Si检测器,能量分辨力为300eV,是近年X射线检测实用技术的重要突破。
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补充一点,专家咨询栏目是本网免费为广大网友服务的栏目,多位专家也是在百忙之中挤出时间来回答网友的问题。但是,毕竟专家人数有限,每个人所涉及到的知识领域还是有一个范围的,可能有一些问题回答的不太令您满意,本网也在不断扩大我们的专家库。<br>
但是,您所说的“推销仪器者”,我们不太赞成,这也是对我们工作的不尊重。
shxie
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这个问题也太大了吧,国内有Oxford,EDAX,Noran等厂家,可以去咨询一下。
Insm_0aafabd9
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麻烦哪位专家有时间告知是不是市面上所有探测器都无法探测出那种不插电,不联网,只靠内存卡录像和不是实时监听的录音设备的仪器,谢谢
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