原文由 xsh1234567 发表:
请教几个问题:
1、一般是以点分析,还是以线扫描的精度会高些呢?
2、如果是点分析的话,好像是不是有“分馏效应”?会不会重?
3、据说LA-ICPMS的分析是需要标准样片的,如果没有,有可能都没办法分析,是这样么?
4、样片分析之前需要特殊处理么?比如严格的抛光之类的。粉末样品以及一些非导电类的样品可以分析么??精度是不是稍微低些呢?
谢谢!
回答你的问题:
第一,单点剥蚀和线扫各有优势,侧重点不同,但精度是一样的。条件试验会用线扫,基本都是我们内部人在做。一般的分析测试都是单点剥蚀。
第二,激光进样的分馏效应已经不那么神秘了,单点和线扫会有同等程度的分馏,只是单点相比线扫来说信号衰减的相对要明显。
第三,同其他进样方式一样,没有标样是没法做测试的,所以你要选择合适的标准系列,最好基体相匹配。
第四,激光剥蚀进样原则上不需要特殊处理,只要你测试的样品能够塞进剥蚀池内,能够聚焦。但是样品表面不光滑会导致外来元素沉积在测试面,造成污染,所以测试前一般会抛光处理,或者预剥蚀几下。
测试样品不需要导电,粉末不能直接剥蚀,要压饼或者融成玻璃质才能剥蚀。