主题:【求助】2100F stem 下的能谱分辨率

浏览0 回复8 电梯直达
csuzn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
我用2100F, spot size=1nm, 聚光镜光栏1号,物镜光栏2号,150K倍率下对Al薄膜进行线扫描,让人奇怪的是扫描到样品外面的时候还有很强的信号,如附图所示(扫描时间40s)。排除样品漂移。不知道哪里的问题?
为您推荐
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
csuzn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
洪星二锅头
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
有点标题党

你是问分辨率,还是漂移的问题?
我觉得你的图像分辨率有点问题,如果是漂移的话,白色的重影应该是一个方向,不知道lz的Z轴高度是调好,可以再尝试一下
csuzn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
排除了漂移(白色重影是晶粒边界高低不平产生的),样品高度也没问题。就是能谱线没有落差,扫到样品外面的时候还有很强的X-ray信号,不知道为什么。
蓝莓口香糖
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
csuzn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
主要就是Al,O的信号是样品氧化带入的。尝试了不同方向,和倾斜结果都差不多。合轴能看到Z忖度像。郁闷中。。。
wjianna
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
确实你描述的不属于分辨率问题。我觉得是杂散电子引起的信号,至于杂散电子打到哪里就不好说了。依据我的经验,样品边沿的X射线信号完全不可控,也就不要纠结了。另外,操作中我还发现,只要加了物镜光阑来做EDS,总的信号大大增加,所以我都退出物镜光阑。
我在做STEM的时候也很困惑,不是说STEM模式的电子束直径很小,为什么总有杂散信号?例如来自于载网的铜,明明我打的位置距离铜网还远,样品也没有装反
yesuaini
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
你的样品杆里有没有Al,或者是样品杆其它元素某个x-ray的能量和铝很接近?
建议除了看元素随位置的变化,最好看一下edxs图谱,再作进一步分析。
csuzn
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
样品杆是没有Al的,edxs图谱也没有问题,可能与电子束作用体积有关
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴